電子部品・半導体

株式会社アイテス

設立平成5年1月1日
資本金10000万
従業員数92名
住所滋賀県大津市栗林町1番60号
電話077-599-5015
最終更新日：
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アイテスのカタログ一覧

181～225 件を表示 ／ 全 345 件

表示件数

SEM-EDX分析時の加速電圧の違いによる検出感度

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色差計による透過率、黄変度（黄色度）評価

その他資料

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パネル偏光板劣化解析

その他資料

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分析と化学反応機構で研究開発をアシストします！

製品カタログ

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透明素材の曇価（ヘーズ）測定、全光／拡散透過率測定サービス

製品カタログ

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ミクロトームによる眼鏡レンズコート層の観察

技術資料・事例集

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大型試料の断面観察(膨張弁)

技術資料・事例集

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アルミ溶接部の観察

技術資料・事例集

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【EBSDによる結晶解析】 アルミ溶接部（スポット溶接）

技術資料・事例集

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信頼性試験から観察までトータルコーディネート

製品カタログ

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【資料】ヘッドスペースGC-MS分析法によるアウトガス分析

その他資料

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実装部品のインク浸漬試験(dye and pry)

その他資料

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銅端子の断面観察とSEM/EDXによる元素分析

その他資料

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樹脂材料（半導体 LED用途）の分析

技術資料・事例集

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有機物の分子構造を、もっとはっきりさせてみませんか？

技術資料・事例集

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化学反応機構研究所　フタル酸エステル1HNMR

技術資料・事例集

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化学反応機構研究所材料劣化解析（PETの分解・劣化）

技術資料・事例集

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高温ラッチアップ試験

製品カタログ

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【資料】超微小硬度計による負荷除荷モード＆カラーフィルター測定例

その他資料

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反応熱分解GCMSによる検出困難物質の分析

製品カタログ

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【資料】断面作製方法

その他資料

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【資料】卓上型SEM(電子顕微鏡)によるネオジム磁石の断面観察

その他資料

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卓上型SEM(電子顕微鏡)によるクラック観察

その他資料

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卓上型SEM(電子顕微鏡)『TM3030Plus』

その他資料

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【資料】太陽電池モジュールの断面観察

その他資料

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【資料】機械研磨法による加工ダメージ

その他資料

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パワーデバイスのHAST試験

製品カタログ

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角型Liイオン電池の構造解析

技術資料・事例集

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ウィスカ観察

技術資料・事例集

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異物分析のための試料加工技術

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ミクロトームによる断面作製

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【観察事例】トグルスイッチのX線観察

技術資料・事例集

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デジタルマイクロスコープによる外観観察

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【イメージングFT-IRによる有機多層膜の分析】多層フィルム

技術資料・事例集

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【イメージングFT-IRによる有機多層膜の分析】アルミ

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イオンクロマト分析

技術資料・事例集

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【SEMによる破断面観察】カニカン

技術資料・事例集

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Liイオン電池セパレータの解析

技術資料・事例集

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FT-IR分析のための液体異物サンプリング技術

技術資料・事例集

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FT-IRによる樹脂硬化度の測定

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【保有設備】FIB（Focused Ion Beam)

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EPMA分析

技術資料・事例集

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EPMAによる微量元素の検出

技術資料・事例集

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EPMAによる状態分析

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【EBSDによる解析例】カニカン

技術資料・事例集

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