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当社では『MALDI-TOFMSによる顔料、ポリマー分析』を行っております。 「MALDI-TOFMS」では、顔料など不溶性であったり分子量が大きい物質の 分子量情報、合成ポリマーなどの分子量情報、末端基情報などを得る事が可能。 合成化合物の質量確認や、他の分析手法と組み合わせての構造解析など、 お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■マトリックス支援レーザー脱離イオン化質量分析法（MALDI法）採用 ■化合物の組成に関する情報を得る事が出来る ■GPCに対しては小さく、LCMSに対しては大きいようなポリマーの分析に好適 ■絶対値とし て質量数が検出される ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
クラック、変色、剥離、変形、物性強度低下など、製品、 部材などに発生する不具合は様々です。 その多くは、製品を構成する材料に原因がある場合が多く、 その材料を分析調査することで解決することがあります。 当資料では、何が起きているのかを化学、および反応機構で アプローチする方法をご紹介します。 【掲載内容】 ■クラック（割れ）、剥離 ■変色、変形 ■化学反応機構（エポキシ樹脂硬化例） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
アイテスでは、『XPSによるバンドギャップの簡易測定』を行っています。 半導体や絶縁物の中で、比較的バンドギャップが広い物質や薄膜の バンドギャップを、XPSを使用して簡易的に測定することが可能。 β-Ga2O3のバンドギャップをO1sのピークを使用して測定を行った際は、 O1sのピーク位置とバンドギャップによるエネルギー損失の端部との差より このβ-Ga2O3のバンドギャップは、約4.9eVと測定されました。 【特長】 ■XPSを使用して簡易的に測定できる ■バンドギャップの広いSiON等の薄膜の簡易測定も可能 ■酸化物系以外の半導体も対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ビニルポリマーには多くの種類があり、その側鎖の分子構造によって さまざまな特性を発現。また、その側鎖の結合配置（立体異性体）により、 結晶性に差が生じます。 当資料では、ビニルポリマーの中でも代表的な、ポリエチレン、 ポリプロピレン､ポリスチレン、塩化ビニル（塩ビ）のIR分析を行った結果を ご紹介。 アイテスは、微妙な差異も見逃さず、化学理論による高度なデータ解析を 行います。いつでもお気軽にご相談ください。 【掲載内容】 ■分析サンプル：ビニルポリマー ■IRスペクトル（ATR法） ■IRスペクトル比較（重ね合わせ） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
アイテスでは、『真贋調査（比較観察）』を行っています。 正規品又は標準品と調査対象品を比較し、構造などの差異や サイレントチェンジされていないか等を調査。 外観観察をはじめ、開封観察や電気的特性測定、破壊・非破壊観察、 信頼性試験、材料調査などに対応しています。 【特長】 ■正規品又は標準品と調査対象品を比較 ■構造などの差異やサイレントチェンジされていないか等を調査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
偏光フィルム、および光拡散フィルムは、LCD製品、意匠デザインなどに 使用されています。 温度や湿度など使用環境により劣化することがあり、偏光、拡散という 特性が低下することで、液晶画面やデザイン等に影響を及ぼします。 当資料では、温度湿度の負荷による劣化状態を、FT-IRにて分析した事例を ご紹介します。 【掲載内容】 ■使用サンプルとその特性 ■偏光フィルムの劣化分析結果（70℃85％ 1週間 試験前後のIRスペクトル比較） ■光拡散フィルムの劣化分析結果（70℃85％ 1週間試験前後のIRスペクトル比較） ■その他 対応可能な分析手法 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
PMMA（アクリル）、PET（ポリエチレンテレフタレート）、 PC（ポリカーボネート）はその透明性という特長を活かし、 多くの用途に使用されます。 液晶ディスプレイの周辺部材、モバイル端末画面の保護フィルム、 ヘッドライトカバー、光ファイバー、繊維など産業用製品には 欠かせない材料です。 当資料では、それらの原料（ペレット）をIR分析した結果をご紹介します。 【掲載内容】 ■分析サンプル：エステル/カーボネート系ポリマーの特長 ■IRスペクトル（ATR法） ■スペクトル比較（重ね合わせ） ■その他、関連分析サービス ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
アイテスは、GCMSを用いてUV硬化樹脂中の光重合開始剤を分析をし、 感光剤の一種であるIrgacure184（光ラジカル重合開始剤）を検出しました。 感光剤には様々な構造のものがあり、その構造によって吸収する光の 波長や反応機構が異なります。このような物質はIR等の主成分分析では 特定できないため熱脱着GCMSによる分析が有効です。 当社では、材料中の微量成分を熱脱着GCMSにて分析し同定することで 様々な材料のキャラクタリゼーションを行います。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【感光剤の例】 ■光ラジカル重合開始剤 ■ポジ型フォトレジスト用感光剤 ■ネガ型フォトレジスト用光架橋剤 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当資料では、MEMS部品の構造解析についてご紹介しています。 X線透視観察にて、パッケージ内部の構造を観察する“加速度センサーの 非破壊観察”をはじめ、“加速度センサーの機械研磨後、光学顕微鏡・ SEM観察”や“マイクロフォンの断面観察（CROSS BEAM FIB/SEM）” を掲載。 是非、ダウンロードしてご覧ください。 【掲載内容】 ■加速度センサーの非破壊観察 ■加速度センサーの機械研磨後、光学顕微鏡・SEM観察 ■マイクロフォンの断面観察（CROSS BEAM FIB/SEM） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
EPMAはEDXと比較すると検出分解能が優れています。 EDXでは元素の検出位置が近く、ピーク分離が困難な場合であっても、 EPMAであればピーク分離が可能な場合があります。 当資料は、47Agと17Clのピーク分離についてご紹介。 チップ抵抗器の断面観察や、47AgのX線スペクトル、マッピング比較 などを掲載しております。 【掲載内容】 ■47Agと17Clのピーク分離 ■47AgのX線スペクトル ■マッピング比較 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当社は、様々な表面分析手法を用いて、異物、変色、汚染などのお困り ごとの解決に向けてお役立て致します。 微小領域からバルク試料まで幅広い分析が可能な「EDX」、電子線を照射し オージェ電子を検出する「AES」、絶縁物の分析や化学結合状態の分析が 可能な「XPS」など、様々な表面分析を行っております。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【分析手法】 ■EDX(EDS)：エネルギー分散型X線分析 ■AES：オージェ電子分光分析 ■XPS(ESCA)：X線光電子分光分析 ■TOF-SIMS：飛行時間型二次イオン質量分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
素材は、使用環境により変質変色することが多いです。 変質変色により製品の性能や意匠性に問題が生じますが、 化学分析によりその分子構造の変化を把握解明することで、 問題の対策や回避が可能となります。 当資料では、表面分析による元素および結合状態分析で 比較検証した事例をご紹介しています。 【掲載内容】 ■分析サンプル ■XPS（ESCA）による元素分析結果 ■XPS（ESCA）による結合状態分析結果（ポリカーボネート） ■XPS（ESCA）による結合状態分析結果（塩化ビニール） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
EBSDで解析したシリコンウエハの事例をご紹介いたします。 ウエハから小片を切り出し、中央50×50μmの領域にてIPFマップを取得。 測定範囲内は、{001}面を表す赤色を示し、また、粒界が見られないこと から単結晶であることが確認できます。 測定したシリコンウエハは単結晶であるため、IPFマップ、極点図、 逆極点図は比較的シンプルな結果になりました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ZEISS製の「FE-SEM ULTRA55」は、GEMINIカラムを搭載しており、 極低加速電圧で高分解能観察が可能な装置です。 検出器も複数搭載されており、さまざまなサンプルの観察が可能。 2種類の反射電⼦検出器による組成情報の把握ができ、低加速電圧でも ⾼分解能なEDX分析ができます。 【特長】 ■⾼輝度電⼦銃による緻密なSEM画像 ■極低加速電圧による極表⾯分析 ■表⾯情報に敏感なインレンズSE検出器を装備 ■2種類の反射電⼦検出器による組成情報の把握 ■低加速電圧でも⾼分解能なEDX分析 ■無蒸着による観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
BGA・CSPはんだの評価では、透過X線画像データから はんだ内ボイドの面積率を測定することができます。 さらに機械研磨を組み合わせることで総合的な評価が可能。 ご用命の際はお気軽にご相談ください。 【特長】 ■BGA（Ball Grid Array）はんだの非破壊評価 ・X線透過観察から得た画像より、非破壊ではんだ内ボイドの ⾯積率（％）が測定可能 ■CSP（Chip Size Package）、BGA（Ball Grid Array）断面観察 ・機械研磨による断⾯観察ではX線観察では⾒難い引け巣などの観察も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
製品を構成する素材は多種多様ですが、製品性能は素材の特性が 鍵を握ることも少なくありません。 アイテスでは、素材の信頼性試験から観察、物理/化学分析まで 一貫対応いたします。 本資料では、プラスチック材料の紫外線/恒温恒湿負荷前後の 分子構造、および熱特性変化の⽐較評価を⾏った事例をご紹介します。 【掲載内容】 ■恒温恒湿試験、および紫外線照射 （サンプル：ポリエチレン（PE）ペレット） ■IR、ラマン、およびEGA分析結果 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
プラスチックの押出/射出成形加工は、その原料の耐熱温度（融点 Tm）に 応じて条件設定されますが原料の劣化変質により、決められた設定温度で 成形加工が困難となるケースもあります。 プラスチック原料のペレットや粉末のメルトフローレイト（MFR）を 確認することで、従来品と変化がないかを把握することが可能。 未処理（負荷なし）、温湿度負荷（恒温恒湿試験）、および紫外線照射した PP（ポリプロピレン）を射出し、温度230℃、荷重5kgで評価した事例を ご紹介しておりますので、ぜひPDFダウンロードよりご覧ください。 【評価事例】 ■PP：ポリプロピレン ■8585：85℃85％ × 336時間 ■UV：紫外線照射 253.7nm × 336時間 ■射出時間：10分（3分から換算） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
エポキシ樹脂は透明度があり、収縮率も低く断面作製等を行う際に よく使われる樹脂ですが、熱硬化型の樹脂であるため、硬化の際には 発熱が伴います。 発熱温度は使用量や主剤と硬化剤の混合比率等により変化しますが、 実装基板やタッチパネル等の大型試料を包埋するとエポキシ樹脂が 発熱し試料基板が変形するほど発熱することもあります。 そこで、実際にどの程度、硬化の際に発熱しているのか確認してみました。 詳しくは、下記PDFダウンロードよりご覧いただけます。 【概要】 ■温度プロファイルの取得-多量の樹脂(大型容器)で発熱防止処理なしの場合 ■温度プロファイルの取得-多量の樹脂(大型容器)で発熱防止処理ありの場合 ■大きめの実装基板でも、埋める前の切断なしで樹脂包埋が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
コネクタめっきの断面観察事例をご紹介いたします。 コネクタ端子のめっき状態が使用により、どのようになっているのか断面を 観察。今回、スジなし箇所とスジの程度が異なる2箇所で断面試料を作製し、 めっきの状態を確認しました。 結果、スジなしと比べるとスジAとスジBは、めっきの厚みが不均一であることが わかりました。これはコネクタの抜き差しによりめっきが引きずられ、厚みが 変化したためと思われます。 【コネクタめっき断面概要】 ■断面の作製はトリプルイオンミリングポリッシャー（通称CP ）を使用 ■スジ箇所のめっき状態をSEMにて観察 ■結果 ・スジなし：表面Auめっきの厚さが均一（約350um） ・スジA：表面Auめっきの厚さが不均一（約490nm/約350nm） ・スジB：表面Auめっきの厚さが不均一（約130nm/約650nm） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
樹脂は、成形加工、および調色がしやすいため多くの製品で使用されています。 使用される環境によっては、変色しやすいことも事実であり、 信頼性試験前後の表色系、および透過率の評価は欠かせません。 本資料では、透明樹脂の恒温恒湿試験前後における表色系、透過率の 変化結果をご紹介いたします。 【掲載内容】 ■（xyY）およびL*a*b*表示系について ■恒温恒湿試験（85℃ 85% 168時間）前後の測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ウィスカは、はんだ付け部や部品リード部に発生するものと思われがちですが、 平面部品のめっき表面からもウィスカは発生します。 観察するにはちょっとしたコツが必要なのです。 当資料では、装置による見え方の違いをはじめ、サンプル角度による 見え方の違いや光源やレンズ角度による見え方の違いについて掲載しています。 【掲載内容】 ■装置による見え方の違い ■サンプル角度による見え方の違い ■光源やレンズ角度による見え方の違い ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
液晶パネルに表示不良が発生した場合、再発防止のためその原因を解明する 必要があります。 本資料では、温度負荷によって表示ムラが発生したパネルAと表示不良が 確認されていないパネルBについて、化学分析により比較解析した事例を ご紹介。 アイテスは、観察などの初期解析にて原因が見当たらない場合、 液晶内部の化学分析から原因を探る事ができ、ここで挙げた手法以外にも 試料や目的に応じた分析法をご提案させていただきます。 【掲載内容】 ■信頼性試験（80℃/ドライ条件/1000時間） ■液晶 GC-MS分析 ■液晶内金属元素 ICP-AES分析 ■まとめ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ICP発光分光分析では、試料中に含まれる金属元素などを複数同時に 検出することが出来ます。 当資料では、液晶中に含まれる微量な金属元素の分析例をご紹介。 ICP-AES分析の原理・概要や測定事例を掲載しています。 サンプルの状態や分析対象の元素など、お気軽にお問い合わせください。 【掲載内容】 ■ICP-AES分析の原理・概要 ■測定事例︓液晶パネル内金属元素のICP-AES定性分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
EPMAは、EDXと比較すると検出分解能が優れています。 EDXでは元素の検出位置が近く、ピーク分離が困難な場合であっても、 EPMAであればピーク分離が可能な場合があります。 当資料では、22Tiと56Baのピーク分離についてご紹介。 積層セラミックコンデンサの分析例や、チタン酸バリウム（BaTiO3）の X線スペクトルを掲載しています。 【掲載内容】 ■22Tiと56Baのピーク分離 ・分析例 積層セラミックコンデンサ ・チタン酸バリウム（BaTiO3）のX線スペクトル ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当社の『化学分析サービス』は、パネル製品、半導体製品、樹脂成形品など 様々な工業製品・材料を分子、原子レベルで分析し、それらの機能や特性、 状態を明らかにして、お客様の課題解決に貢献します。 分析対象の材質や分析の目的に合った分析手法の提案が可能です。 ぜひお気軽にご相談ください。 【分析内容の例】 ◎製品内の異物 ◎使用材料の状態 ◎材料の変質 ◎材料に含まれる微量成分・元素 ◎製品や材料の熱による物理特性
●太陽電池モジュールの評価／分析 太陽電池モジュールの故障解析や性能評価を実施します。 ・非破壊検査：製品出荷検査と同等のEL測定や出力測定にて、故障状態を顕在化します。 ・破壊検査：不具合部分の断面成分解析等にて、故障原因を特定します。 ●現地調査 自然災害等による太陽光パネルの被害状況や、発電低下部分の原因追及を行います。 ・ソラメンテによる測定をはじめ適切な方法をご提案し、故障状況や原因を調査します。 ・調査結果より、保険会社向けの調査報告書をご提出します。
●校正 測定器の測定値が、適正であるかを調べるサービスです。 測定値の信頼性を維持管理していくためには、定期的な校正が必要です。 ●点検 測定器の健康状態を確認できます。 故障のもとをいち早く発見できるので、トラブル防止にもつながります。
「eソラメンテ」シリーズは、住宅・小規模太陽光発電設備向けの750V対応機です。eソラメンテ-Z eZ-10と電流センサーeA-10があります。 eZ-10は、接続箱の各ストリングP/N端子をプローブし、故障パネルのあるストリングを検出する点検装置です。特殊な検出信号をストリング回路に印加し、開放電圧と直列抵抗（インピーダンス）を測定、異常のあるストリングを判別します。 eZ-10のストリング測定で異常のあるストリングを検出したら、eZ-10に電流センサー eA-10を接続して故障パネルの特定を行います。 eA-10は、発電中のパネル表面にセンサーをあて、クラスタ故障*が発見できる点検装置です。インターコネクタに流れる発電電流をセンサーで感知し、音で発電していないクラスタをお知らせします。 （*クラスタ故障は、初期不良、経年劣化、雷害などにより発生します） eソラメンテは、コンパクトかつシンプルな機能で、さらなる使いやすさを追求しています。
ストリングチェッカー ソラメンテ-Z SZ-1000は、太陽光パネル故障をストリング単位で特定できます。 SZ-1000は、接続箱の各ストリングP/N端子をプローブし、故障パネルのあるストリングを検出する点検装置です。特殊な検出信号をストリング回路に印加し、開放電圧と直列抵抗（インピーダンス）を測定、異常のあるストリングを判別します。 SZ-1000は、高圧・特高向けに直流電圧1500Vまで対応しています。使いやすい操作性はSZ-200から引き継ぎ、大型液晶でさらに見やすくなりました。
『信頼性試験、曇価（ヘーズ）測定、IR分析のセットメニュー サービス』についてご紹介します。 プラスチック（樹脂）素材は、使用環境により変色、変質する場合があり、 透明素材は、その透明性、高い透過率が価値ある特性となりますが、 劣化変質によりその特性が低下することで、素材としての機能を失います。 当資料では、「信頼性試験装置例」をはじめ「曇価測定結果」や 「IR分析結果」を表とグラフを用いて解説。 是非、ご一読ください。 【掲載内容】 ■信頼性試験装置例（恒温恒湿試験装置） ■曇価（ヘーズ）測定結果 ■IR分析結果 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
『高分子構造変化の解析』についてご紹介します。 当資料では、「ラマン分光分析による高分子高次構造の評価」と 「高分子鎖の構造変化」を掲載。 高分子の分子構造はその特性に影響を与え、高分子製品の物性に影響し、 高分子鎖が集合してつくる高次構造を分析的手法により評価してみました。 是非、ご一読ください。 【掲載内容】 ■ラマン分光分析による高分子高次構造の評価 ■高分子鎖の構造変化 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当資料は、『EGA-MS分析、熱脱着・熱分解GC-MS分析による PTP梱包シート分析』についてご紹介しております。 工業製品には様々な材料が使われており、例えばポリマーには、添加剤 などの低分子成分とポリマーそのものである高分子成分が含まれます。 GCMS分析では、低分子成分は比較的低い温度で揮発する一方、 高分子成分は高温で分解させてから分析する必要があります。 ここでは錠剤の梱包に使われるPTP梱包シートのポリマー成分と 添加剤成分を分析した例を掲載。 是非、ご一読ください。 【掲載内容】 ■発生ガス分析法（EGA-MS分析法） ■PTP梱包シートの分析例 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
『自記分光光度計による透過率測定サービス』についてご紹介します。 透明素材の透過率は、使用される製品のスペックに重要な特性項目です。 熱、湿度、紫外線などによる劣化でその特性が低下、 または失われる場合があります。 当資料では、装置原理とともに、透明樹脂の恒温恒湿試験前後での 透過率の変化を比較評価した結果、および考察内容を掲載。 是非、ご一読ください。 【掲載内容】 ■自記分光光度計の原理、および仕様 ■PET樹脂（ポリエチレンテレフタレート）の透過率変化 ■PVC樹脂（塩ビ︓ポリビニルクロリド）の透過率変化 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
解析手法の基本的で応用範囲が広い光学顕微鏡観察からSEM観察、 EDX元素分析までの流れをご紹介致します。 光学顕微鏡による観察は基本的な観察手法の一つであり、大まかな 形状観察等を素早く行えます。また、特長は色情報が得られる事で、 腐食等の変食を伴う異常の観察に活躍。 当資料では、この他にも「SEMによる観察」や「EDXによる元素分析」を 写真やグラフを用いて詳しく解説しております。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■光学顕微鏡による観察 ■SEMによる観察 ■EDXによる元素分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
EDX分析を行う際には元素の検出感度を上げる為に高い加速電圧で分析を 行っている方も多いのではないでしょうか？ しかし目的によっては必ずしも高加速電圧での分析が良いとは限りません。 白色LEDは青色LEDに黄色の蛍光体（粉体）を組み合わせて白色光を発生 させており、今回、この蛍光体について加速電圧を変え面分析を行うと、 どのような違いがあるのか確認しました。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■テスト試料（LED蛍光体） ■加速電圧の違いによる面分析像 ■モンテカルロシミュレーションによる電子線散乱領域からの考察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
製品を構成する素材の、熱、湿気負荷による信頼性試験は必須ですが、 試験後の分析評価もまた、欠かすことのできないプロセスです。 恒温恒湿試験は、製品、素材などに温度と湿度の負荷をかけ、物性、特性、 外観などの変化有無、および寿命を確認する装置で、当社では、多種多様な サンプルの設置も工夫してご対応。 当資料では、恒温恒湿試験前後の素材分子構造変化をIR分析にて検証した 事例をご紹介します。ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■信頼性試験装置例（恒温恒湿試験装置） ■サンプル設置の工夫 ■化学分析による試験前後の比較評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
EPMAには、7つの分光結晶があり、目的とする元素の波長に合わせて分光器を 選択することで、エネルギー分解能や検出感度が良く、微量成分の定量分析や マップ分析等で優れた結果を得ることが出来ます。 当資料では、"波長分散型X線分光器（WDS）の測定原理"をはじめ、 "22Tiの測定例"などを図を用いて詳しく掲載。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■波長分散型X線分光器（WDS） ■測定例 22Ti ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当資料では、長期の使用により破損したカニカンについて、断面から観察 及び元素分析、超微小硬度測定を行った事例をご紹介しています。 "超微小硬度計による硬度比較"をはじめ"破断部の面分析結果と超微小硬度 (低荷重)の関係"などを写真や図を用いて分かりやすく掲載。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■破損したカニカンの観察 ■超微小硬度計による硬度比較 ■破断部の面分析結果と超微小硬度(低荷重)の関係 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
SEM観察は、試料表面に照射した電子が試料の極表層で散乱することで 発生する二次電子や反射電子を検出器で捉え、像としてモニターに 映し出しています。 電子を捉える検出器には種類があり、それぞれの特長を生かした像が 得られ、加速電圧を変えることで見え方も変わります。 当資料では、各種条件下で撮影したSEM像をご紹介。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■反射電子像 ・高加速電圧による反射電子像(AsB検出器) ・低加速電圧による反射電子像(EsB検出器) ■二次電子像 ・加速電圧による見え方の違い ・検出器の位置による見え方の違い ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ランプ加熱試験（赤外線照射試験）についてご紹介します。 環境試験槽に試験試料を設置し送風状態で雰囲気温度を制御しながら、 赤外線ランプを最大7個使用し光を照射することで、試料表面の温度センサー の温度が雰囲気温度より高くなるように制御を行います。 例えば、昼間の高温になった車内において、太陽光により雰囲気温度より さらに過熱されるストレスを模擬する事ができます。 【特長】 ■環境試験槽内で送風環境下における赤外線照射試験に対応可能 ■雰囲気温度に対して試料表面の温度が高くなるような環境を再現できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
株式会社アイテスでは、樹脂の変質劣化を確認する「FT-IR分析」を 行っております。 樹脂の劣化は、目に見える変色もあれば、見えない変質もあります。 変色では外観変化で把握できますが、見えない変質は強度低下に繋がり、 様々な不具合の起点となります。 IRによる分析は、その変質による分子構造変化を把握する事が可能です。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
SEM-EDX分析時の加速電圧の違いによる検出感度についてご紹介します。 一般的なプリント基板（PCB基板）のAuめっき表面を分析した際、下層のNiが 露出していないにも関わらず検出される場合があります。 これは電子線の散乱深さに関連性があり、正しい分析結果を得るには適切な 加速条件を設定する必要があります。 今回、モンテカルロシミュレーションを用いて加速電圧の違いによる EDX検出深さについて確認を実施。 今回はほんの一例に過ぎませんが、正しい分析結果を得るには電子が どのように散乱しているか想像しながら加速電圧を設定することが大切です。 【テスト基板概要】 ■試料は一般的なプリント基板（PCB基板）のAuめっきパッドを用いた ■層構成はCu配線上にNiめっき/Auめっきが施されたもの ■Auめっきの厚みは断面観察より、212nm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
色差計による透過率、黄変度（黄色度）評価についてご紹介します。 製品構成素材を、透明、色彩豊かにすることで、製品用途に必要な 機能特性や芸術性、意匠性などが付与されますが、使用される環境により 黄変（変色）し、それらの特性が損なわれることがあります。 透明度、色彩を人の目の感覚ではなく、数値データ化することで、 客観的な評価が可能となります。 【概要】 ■色差測定原理と取得データ（XYZ Yxy表色系） ・光源から放出される光が透明試料を通過し、積分球ボックス内で、 透過した波長（透過率）と変換された表色系データを取得 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
液晶パネルに使用される偏光板はトリアセチルセルロース、ポリビニルアルコール、 ポリエチレンテレフタレートなどを貼り合わせた多層フィルムで出来ています。 当資料では、信頼性試験後のパネル偏光板をHS-GCMS分析、熱脱着GCMS分析により劣化解析した事例をご紹介しています。 目に見えない劣化でも、この分析なら見つかるかも？！ 是非、ご一読ください。 【掲載内容】 ■信頼性試験 ■HS-GCMS分析によるアウトガス分析 ■熱脱着GCMS分析による低沸点成分分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
研究開発において、分析や評価はチェックポイントとして欠かせない プロセスであり、その注目すべき対象には製品の構成材料が候補となる ことが多々あります。 アイテスは、保有する多種多様な機器分析装置、観察装置、信頼性試験装置、 そして蓄積された知見と化学反応機構でメーカー様の研究開発をアシストします。 豊富な技術、知見、装置でご対応いたしますので、お気軽にお問合せください。 【特長】 ＜分析機器例＞ ■顕微IR ■顕微ラマン ■（EGA／TD/Pyr）GC-MS ■TOF-SIMS ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【イプロス初主催】AIを活用したリアル展示会！出展社募集中
