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株式会社エフケー光学研究所

住所埼玉県新座市中野1-13-4
電話048-482-6910
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レーザー干渉計 レーザー干渉計
MTF測定装置 MTF測定装置
異物検査装置 異物検査装置
光学設計 光学設計
引掻き試験機 引掻き試験機
マクロ検査装置 マクロ検査装置
研究開発支援実績 研究開発支援実績
引掻き試験機

引掻き試験機

各種材料表面のscrapeの付着性、及びキズ耐性等に使用されます。 所定の荷重で試験片に押し付け所定のスピードで往復運動させて[キズ]の判定をする装置です。