新電子の製品ラインアップ

圧入タイプのコネクタピンを基板に挿入、圧入する際に、稀にコネクタピンが スルーホールに入るのを嫌い、座屈してしまう不良が発生します。 また、プレスフィットコネクタのピン長さ(p)は非常に短く、座屈した高さ(p2) との差が少ない為、良否判定することは困難です。 「ESV-H10-II」では500万画素のCCDカメラとテレセントリックレンズ、強力な 特殊照明により、スルーホール内のピンの挿入状態の撮影が可能。 また、独自の解析ソフトにより正常ピン・ボケた座屈ピン・ランドの区別が 可能となり、高精度での座屈検査をお約束します。 【ESV-H10-II　特長】 ■座屈検査に影響のある基板形状(高さ)の補正用としてレーザー変位計を搭載 ■高さ補正箇所を基板上に設定することで、各コネクタ単位での高さ補正が可能 ■タッチパネルモニターを採用することによって、細かいマウス操作が不要 ■確認するオペレーターがわかりやすい画面表示や機能を搭載 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他検査機器・装置
• 外観検査装置

『ESV-7000』は、画像認識タイプのバッチ式外観検査装置です。 上カメラ+360°回転の斜めカメラの2台を搭載し、上からだけでなく斜め360°の 多角度からの自動判定が可能。 基板厚を含め最大70mmまでの高さクリアランスを保持しており、手挿入部品や リード部品といった後工程の部品を実装した状態でも検査ができます。 【特長】 ■2台のカメラを搭載 ■Z軸最大40mm可動 ■部品高さクリアランス最大70mm ■タッチパネルモニタ採用 ■ローアングル照明により見えにくい文字を鮮明に映し出す ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 外観検査装置

『ESI-2020/ESI-2020ST』は、OSにMicrosoft Windows 7,10を採用した 高速インサーキットテスターです。 システムの安定化、セキュリティの強化、ネットワーキングの容易性を ご提供します。 また、ESI-2002モデルで大変ご好評の4端子測定機能(ケルビン測定)を 標準装備しております。 【特長】 ■Windows 7,10にて動作 ■超高速検査を実現 ■通信方式にEthernetを採用 ■4端子低抵抗測定機能を標準装備 ■ESI-2002のデーターの共有化と多彩な編集機能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他検査機器・装置

☆異物外観検査装置☆ ○特徴 1.上＋斜め2台カメラで様々な角度から基板上の異物を確実に捕らえます。 2.弊社独自の照明ユニットにより、基板と異物の輝度が明確になり、基板　上の異物のみを検出することが可能です。 3.検査対象は、基板上(シルク除く)・金パッド等様々な検査対象物上の異　物を検査します。 4.弊社独自の異物検査アルゴリズムにより、異物の検出精度・検査結果の　安定性が向上します。 5.メカ設計・電気設計・ソフト設計・組立・配線を社内で一貫して行って　いるため、お客様のあらゆる特注ニーズへの対応可能です。 6.装置ラインナップは、バッチ式・インライン式・両面対応、またクリー　ンルーム対応機も製作可能です。 現在、数多くの自動車関連メーカで稼動中です。是非一度弊社の異物検査の実力をご覧下さい。

• 外観検査装置

☆メタルマスク外観検査装置☆ ○特徴 1.様々な製版マスク(SMTメタルマスク・サスペンドメタルマスク・乳剤製　版マスク・バンプメタルマスク)の検査・測長機能。 2.各工程間の検査に対応するため、検査用マスターデータは、ガーバデー　タに加えフィルム・硝子乾板からも生成可能。 3.ハイスピードカメラ：高速画像処理手法の採用による高速検査の実現。 4.画像検査に加え±10μ精度の測長機能を搭載。 5.主な検査項目 　ピンホール・断線・ショート・パターンの異彩・乳剤のエグレ・サイズ　違い・形状違い・半透明の乳剤カスの残存・異物

• 外観検査装置

これまでの機能試験機(動作保証)と画像検査機が一体となった次世代型のファンクションテスターです。 ワークの機能試験(動作保証)に加え、液晶等の表示物を擬似信号でコントロールし、表示された絵や文字をカメラで自動検査する装置です。 機能試験は、ワークの動作保証(電圧計測,周波数カウント,負荷,フラッシュ書込み,液晶・セグメント等の表示物の表示)を試験します。 画像検査は、液晶の表示物(絵・柄・色)、セグメント、文字、数字の有無・色違い・柄違い・各セグメントのON/OFF等を判定します。 ☆弊社ファンクションテスターのメリット ●システム設計・機械設計・電気設計・ソフト(PC,シーケンサ)設計・組立・配線・全てを社内で一貫して行うことで低コスト、短納期が実現可能です。 ●弊社では、機能試験に必要な計測器等を購入せず、それらをモジュール化し、独自の計測基板を自社開発することで大幅なコストダウンと計測時間の高速化を実現しました。 機能試験機をご検討のお客様、是非一度弊社にご相談下さい。

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