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【半導体製造装置関連】集積回路測高検査装置2型

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最終更新日:2024年04月25日

株式会社ライズワン
株式会社ライズワン
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計測後NG品を自動排出!自動ローディングされたJEDECトレー内ICの高さを計測する装置

『集積回路測高検査装置2型』は、視野角10mm内、高さ0.7mm以内の高さ計測が可能な製品です。 スロットマガジンに格納されているリードフレーム(最大30×50)を1枚ずつ計測ステージにローディングし、高さ計測を実施。 検査結果によるNG排出を行い、空ポケットに良品ワークを自動充填します。 当社は、FA装置の開発・設計から組立調整、設置、納品後のメンテナンスや改善・改造提案まで一貫したサービスを展開しています! 掲載装置は製作実績です。 こちらをご参考に、類似した装置または新規製作に対応致しますので、お気軽にお問い合わせ下さい。

    その他半導体製造装置
electronic-003.png

【半導体製造装置関連】集積回路測高検査装置2型

electronic-003.png
electronic-003.png
  • 関連リンク - https://jp-riseone.co.jp/products/electronic-003/

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基本情報

【簡易スペック】 ■3D変位計KEYENCE WI-010 2台搭載 ■計測時間1枚0.35秒 ■トレー入れ替え0.5秒以内 ■JEDECトレー最大セット数40枚自動投入 ■NGワーク自動排出後、OKワーク自動投入

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用途/実績例

スロットマガジンに格納されたリードフレームの高さを計測し、検査結果によるNG排出、良品ワークの自動充填をする装置

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ライズワン会社/製作実績装置紹介

ライズワン会社/製作実績装置紹介

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この製品に関するニュース(1)

集積回路測高検査装置2型

高さ検査装置 【ICの自動計測とNG品自動排出】-製作実績紹介-

  • 製品ニュース

ローディングされたJEDECトレー内のICの高さを計測し、NG品を排出しアンローディング、これらを全て自動で行います。 スロットマガジンに格納されているリードフレーム(最大30x50)を1枚ずつ計測ステージにローディングして高さを計測します。視野角10mm内、高さ0.7mm以内の高さ計測が可能です。 検査結果によるNG排出を行い、空ポケットに良品ワークを自動充填します。 ・3D変位計KEYENCE WI-010 2台搭載。 ・計測時間1枚0.35秒。 ・トレー入れ替え0.5秒以内。 ・JEDECトレー最大セット数40枚自動投入。 ・NGワーク自動排出後、OKワーク自動投入

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企業情報

株式会社ライズワン

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当社は、FAの自動化・省力化を進めるお客様に向けて、自動車などの制御装置<ハードウェア・ソフトウェアの設計・製作及び電子回路設計>、FA装置<半導体製造用、カード製造用、画像検査、搬送装置など>をオーダーメイドで製作しています。 お客様の想いを形にすべく、開発、設計、組立調整、アフターメンテナンスまで、一貫したサービスをご提供し、幅広いFA業界のお客様にお引き立ていただいてます。 市場にない装置の開発、機能を最小限に厳選したコンパクトな設備、また、現在ご使用の設備を改造したいなどの、様々なお客様のご要望に弊社の技術と経験で対応致します。 お客様の省エネ化、省人化のサポートは、知識と経験を積んできました当社技術者にお任せください!

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