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半導体製造特集

小型・薄型かつ高性能な半導体の製造プロセスをサポートする製品・技術を大公開!

掲載開始:

最小分解能2μmを実現。先端半導体パッケージの非破壊検査にも対応可能なX線源

キヤノンアネルバ株式会社

半導体の微細化が加速する中、X線を使用した非破壊検査においてもますます高解像度の撮影が求められています。 キヤノンアネルバの『G-511シリーズ』は、高解像度・高倍率の撮影が可能な透過密閉型マイクロフォーカスX線源です。最小分解能2μmを実現し、生成AI等に使われる「先端半導体パッケージ」の非破壊検査に対応可能。ターゲットの回転調整がいらず3分以内で立ち上がるため素早く撮影できます。

  • マイクロフォーカスX線源

無償テスト実施中。開発現場の声に応える機能を備えた研究開発向けコータ

株式会社康井精機

塗工機を検討する際、「オーダーメイド装置は高価で購入できないが、既製品では仕様不足」ということはよくあります。 康井精機の『Mini-Labo(TM) DX』は、仕様をカスタマイズできる高精度テストコータです。研究開発の現場では、コロナ処理装置やUV装置を追加できる仕様の柔軟性が評価されています。同製品は、最短6カ月で出荷可能。現在、無償テストを実施しています。

  • コンパクトテストコータ

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