「電子基板におけるイオン残渣とその分析手法」の技術資料を新たに追加しました

当資料では、洗浄剤メーカーとして当社がこれまで取り組んできた
電子基板上のイオン残渣の分析について解説しております。
イオンやフラックスについての説明をはじめ、イオンコンタミネーション
測定やイオンクロマトグラフィ、走査型電子顕微鏡エネルギー分散型X線
分光法などを解説。
また、活性剤の洗浄性の分析事例も掲載しております。
是非、ダウンロードしてご一読ください。

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