Webセミナー：フィルムの全面膜厚測定をリアルタイムに実現するラインスキャン膜厚計のご紹介（2025年5月21日）

ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現！

「ラインスキャン膜厚計(インラインタイプ)」は、インラインでの フィルム生産現場においてフィルムの膜厚を全幅・全長測定できる装置です。 独自の分光干渉法に新たに開発した高精度膜厚演算処理技術を組み合わせる ことで、最短0.001秒毎の測定間隔で500mm幅(1台使用時)のフィルムの 膜厚測定が可能。 また、膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポートや、バタつきに 強い光学系を採用しているなどといった特長が備わっております。 【特長】 ■ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現 ■膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポート ■高速・高精度に測定が可能 ■バタつきに強い光学系を採用 ■幅広のサンプル(TD方向に最大10m測定可能) ■ハード・ソフト共にオリジナル設計 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 膜厚計

全面を高速かつ高精度に測定可能！膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポート

「ラインスキャン膜厚計(オフライン)」は、フィルムなどの研究開発や 品質管理の抜き取り検査に、オフラインで簡単に面内膜厚ムラ検査が可能な 装置です。 フィルムなどの面内膜厚ムラを検査することができ、全面を高速かつ高精度 に測定可能。 また、測定範囲は0.1～300μmで、測定幅は250mm。ハード・ソフト共に オリジナル設計となっております。 【特長】 ■フィルムなどの面内膜厚ムラを検査可能 ■全面を高速かつ高精度に測定可能 ■膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポート ■分光測定による高精度な膜厚測定 ■ハード・ソフト共にオリジナル設計 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 膜厚計

光干渉法による膜厚測定の原理

光干渉法と自社製高精度分光光度計により、非接触・非破壊かつ高速高精度での膜厚測定を可能にしました。 光干渉法は、分光光度計を利用した光学系によって得られた反射率を用いて光学的膜厚を求める方法です。 図１のように金属基板上にコーティングされた膜を例にとると対象サンプル上方から入射した光は膜の表面で反射します（R1）。さらに膜を透過した光が基板（金属）や膜境界面で反射します（R2）。この時の光路差による位相のずれによっておこる光干渉現象を測定し、得られた反射スペクトルと屈折率から膜厚を演算する方法が光干渉法です。

• 分析機器・装置

ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現！

半導体の研究開発や生産現場において、ウェーハ基板上の薄膜を全面測定できる装置です。 独自の分光干渉法と新たに開発した高精度膜厚演算処理技術を組み合わせることで、12inchウェーハの面内分布を高速に測定することが可能です。 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 膜厚計

2025年5月28日(水)～5月30日(金)に東京ビッグサイトで開催される「ワイヤレスジャパン 2025×ワイヤレス・テクノロジー・パーク (WTP) 2025」に、アイ・ビー・エス・ジャパン株式会社とEkahau Inc.が共同出展いたします。優れたWi-Fiネットワークの設計、検証、維持、トラブルシューティングに必要なすべてが揃ったEkahauのソリューションをメインに、弊社が取り扱う産業のDXを推進するワイヤレスソリューションを展示いたします。 サイトサーベイってどうやるの？専門知識がないと難しいのでは？…そんなお客様必見！会場にて今年も「サイトサーベイ体験企画」を実施いたします！Wi-Fi 7対応の高速・高精度Wi-Fi診断/測定デバイスSidekick 2を肩からさげて会場内を歩いて実際にサーベイを行い、電波収集速度や、優れた可視化・解析で最適なWi-Fi環境へ導くEkahauのソリューションをぜひ体感してください！ ※事前申込制となりますので、「サイトサーベイ体験のお申し込みはこちら」から詳細をご確認いただきお申込みください。

次世代型ハイパワー・ハイブリッドクーラントシステム smartec社Aeroforceのデモ実演を見どころにした展示を予定しております！ その他にも、Nine9社のTDチャンファーミルや大好評のFXコーティングを施した7leaders社の最新エンドミルなど… 生産現場の加工を効率化する革新的な切削工具をご用意し、皆さまのご来場を心よりお待ちしております！ 詳細はこちら https://toolde.co.jp/?p=5317

FTIR・ラマン分光法の基礎とソフトウエアの活用法、異物分析のためのサンプリング、解析ノウハウについて、皆さまの日ごろのお仕事に役立つ実践的な情報をご紹介する無料セミナー、FTIR・ラマン分光法の基礎・異物分析セミナー 2025を全国10カ所で開催します。 日常の分析において必要な基礎知識、プロが教える実践的な異物分析テクニック、実機を用いたワークショップやさまざまな業界における異物分析の測定事例など、多様な情報をご提供いたします。また、日ごろの分析業務でのお困りごとなどを、当社スタッフに直接ご相談いただけます。皆さまのご参加を心よりお待ち申し上げております。

貴社におかれましては益々ご盛栄のこととお慶び申し上げます。 弊社は以下の展示会に出展し、新製品を含め多数の製品をご紹介させていただきます。 ご多忙中のところ大変恐縮でございますが、この機会に是非ともご来場いただきたくご案内申し上げます。 【 展示会名 】 第27回インターフェックスWeek 東京 https://www.interphex.jp/tokyo/ja-jp.html 【 会 期 】 2025年7月9日（水）～ 11日（金） 10:00 ～ 17:00 【 会 場 】 東京ビッグサイト

貴社におかれましては益々ご盛栄のこととお慶び申し上げます。 弊社は以下の展示会に出展し、新製品を含め多数の製品をご紹介させていただきます。 ご多忙中のところ大変恐縮でございますが、この機会に是非ともご来場いただきたくご案内申し上げます。 【 展示会名 】 人とくるまのテクノロジー展 2025 YOKOHAMA https://aee.expo-info.jsae.or.jp/ja/yokohama/ （会期中およびその前後の期間、"オンライン展示会" も開催されます） 【 会 期 】 2024年5月21日（水）～ 23日（金） 10:00 ～ 18:00 ※最終日は 9:00 ～ 16:00 （オンライン展示会 ： 5月14日（水）～ 6月4日（水）） 【 会 場 】 パシフィコ横浜 （神奈川県横浜市西区みなとみらい1-1-1） ブース番号 「コンコース 505」