9月9日(火)Webセミナー「チップレット実装に関する基礎とテスト・評価技術」
チップレットは多数のチップを1パッケージに集積する技術であり、従来のチップ単体テスト手法だけでなく、チップレットのための新たなテスト手法が必要となる。本講座では電子回路テストの基礎技術を紹介したうえで、チップレットの概要、チップレットテストの考え方、真のKGD(Known Good Die)選別のためのテスト手法、ウェーハプローブの課題と最新動向、インターポーザのテスト、システムレベルテスト、SDC(サイレントデータ破損)、チップレット相互接続テストのためのバウンダリスキャンとIEEE 1838規格、TSV接続障害リペア方式とUCIe規格、ハイブリッドボンディングなど超狭ピッチTSV接続を評価するための新たな計測方法などを紹介する。
セミナー対象者
チップレットの実装やテストに興味がある方
セミナーで得られる知識
・ 電子回路テストの基礎知識
・ チップレットの概要
・ チップレットテストの考え方と動向
・ バウンダリスキャンの基礎知識とチップレットテスト規格 IEEE 1838
・ TSV接続障害回避技術とUCIe規格
・ アナログバウダリスキャンによるTSV接続の新しい評価技術

開催日時 | 2025年09月09日(火) 13:30 ~ 16:30 本セミナーは「Zoom」を使ったライブ配信セミナーとなります。 https://cmcre.com/archives/133007/ |
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参加費 | 有料 |
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