分析講座「走査型プローブ顕微鏡(SPM)の基礎と応用」
近年、ナノスケールでの材料評価ニーズの高まりに伴い、表面・界面の微細構造や物性を直接的に可視化できる走査型プローブ顕微鏡(SPM)の重要性が増している。SPMはAFM(原子間力顕微鏡)に代表される、探針と試料表面の相互作用を利用して高さや物性を測定する顕微鏡技術である。
本講座では、市販AFM装置をベースに、SPMの基本構造や測定原理を体系的に整理するとともに、装置の要素技術、カンチレバー選定、前処理、測定パラメータの考え方を解説する。さらに、機械物性・電磁気物性・化学物性評価といった応用事例も紹介し、形状観察にとどまらないSPM活用の実践的理解を目的とする。

| 開催日時 | 2026年10月06日(火) 13:30 ~ 16:30 |
|---|---|
| 参加費 | 有料 44,000円(税込、テキスト費用を含む) |
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