【10/13無料Webセミナー】要素技術の検証不足で数カ月の手戻りに!~電子機器開発、試作評価フェーズの管理技術~
センサをはじめとする電子機器開発では、超小型化という制約の中で、メカ・エレキ・ソフトが連携して精度を確保しなければなりません。新規機構や新規ICを採用した「攻めた設計」ほど、試作・評価段階で防水性能やノイズ干渉などの「想定外」に直面し、カットアンドトライが続きがちです。要素技術の検証不足が、数カ月単位の手戻りを招くことも珍しくありません。
本セミナーでは、想定外を事前に減らす「セットベースコンカレント開発」と、開発フローを改善しリードタイムを短縮する「CCPM」を組み合わせた製品開発マネジメントを、実践事例とともにご紹介します。
■日時:2026年10月13日(火)15:00~16:00
■形式:オンライン(Zoom)/参加費無料/定員100名
■講師:真道 久英(ゴール・システム・コンサルティング 執行役員CTO)
■対象:電子機器メーカーの製品開発部門の管理職・リーダークラスの方

| 開催日時 | 2026年10月13日(火) 15:00 ~ 16:00 |
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| 参加費 | 無料 |
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