セミナー「薄膜の密着性評価技術と改善策]のお知らせ

弊社社長 熊谷泰が2015年7月27日(月)に日本テクノセンター主催セミナーにて講義をおこないます。
題名:「薄膜の密着性評価技術と改善策~スクラッチ試験機による実際と応用例およびドライプロセスにおける密着性改善策~」
場所:東京都新宿区日本テクノセンター研修室
日時:7月27日(月)10:30~17:30
講師:熊谷泰、グウェン・ボロレ(アントンパール・ジャパン)
申込:http://www.j-techno.co.jp

開催日時 | 2015年07月27日(月) 10:30 ~ 17:30 |
---|---|
会場 | 〒 163-0722 東京都新宿区西新宿小田急第一生命ビル(22階) 日本テクノセンター研修室 |
参加費 | 有料 |
このニュースへのお問い合わせ
Webからお問い合わせこのニュースの詳細・お申し込み
詳細・お申し込み