高再現安定性
レーザーダイオードを高速パルス駆動してI-L 及びI-Vf 特性を測定する装置です
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基本情報
【特長】 ●CW では得ることのできないパルス変調でのI-L のキンク特性を 30nSの短パルス幅の領域まで測定可能としました ●得られたデータはWINDOWS 上で表示され、データ処理されます ●ビームプロファイラ、偏光特性及びFFP などの測定が計測ステージの カスタマイズにより可能な仕様です ● 高拡張性（測定ヘッドの増設が可能） ●その他機能や詳細については、カタログをご覧ください。
価格情報
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納期
~ 1ヶ月
用途／実績例
【用途】 ○ピックアップ開発でのLD受入検査用評価装置 ○品質検査用カーブトレーサー ○パワー校正用基準器
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企業情報
私どもシステム技研株式会社は、総勢50名弱の研究開発型企業であり、一貫したユーザーファースト（顧客第一）の企業理念のもとお客様の様々なご要望にお応えするため、常に創意工夫と技術革新の弛まぬ努力を続けております。1969年創業以来先端デバイスの計測・評価システムを通じて先端技術の躍進に貢献致してまいりました。 近年はオプトエレクトロニクス分野のデバイス計測評価システムのパイオニアとして高い評価をいただいているものと自負しております。 皆様におかれましては、今後とも従来同様のご支援、ご鞭撻を心からお願い申し上げますとともにより多くの人の期待にお答えするシステム技研でありたいと考えております。