オプションを加える事で、反射型ディスプレイも測定可能
バタフライモジュールLDの電気、光学特性を自動計測
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基本情報
【特長】 ●ペルチェステージの採用により、高い安定性の冷熱プレート上で、 DFB-LD,FP-LD,ポンプレーザー等のバタフライモジュールLDの電気、 光学特性を自動計測 ●製品デバイスの出荷検査に最適 ●その他機能や詳細については、お問い合わせください。
価格情報
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納期
~ 1ヶ月
用途／実績例
○詳細はお問合せください。
企業情報
私どもシステム技研株式会社は、総勢50名弱の研究開発型企業であり、一貫したユーザーファースト（顧客第一）の企業理念のもとお客様の様々なご要望にお応えするため、常に創意工夫と技術革新の弛まぬ努力を続けております。1969年創業以来先端デバイスの計測・評価システムを通じて先端技術の躍進に貢献致してまいりました。 近年はオプトエレクトロニクス分野のデバイス計測評価システムのパイオニアとして高い評価をいただいているものと自負しております。 皆様におかれましては、今後とも従来同様のご支援、ご鞭撻を心からお願い申し上げますとともにより多くの人の期待にお答えするシステム技研でありたいと考えております。