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最終更新日:2016年02月10日
走査型白色干渉計(光干渉計)は、試料の表面形状を「高い垂直(Z)分解能(0.1nm)と広い(X-Y)測定視野(50μm~4.2mm)」で高精度に、非接触3次元測定を行うことが可能です。4.2mm×4.2mmの視野まで測定可能です。
【分析事例】ZnO膜表面の形状観察
詳しいデータはカタログをご覧ください
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電子部品の分析です
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