複数の品種を切り替えて測定。操作簡単、高精度、光切断法。
高精度「カムシャフト外観検査装置」はカムシャフトの高さ形状測定を光切断法を用いて計測し、加工された基準カムシャフトとの高さを検出します。祖材基準カムシャフトとの高さを比較しキズを検出し3台の測定カメラに1対1で接続し1台の統括PCで測定を行います。詳しくはカタログをダウンロードしてください。
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基本情報
【特長】 ○マスタ登録により、複数の品種を切り替えて測定 ○カム部、ジャーナル部それぞれ独立した高さ闘値、面積にて測定 ○測定した高さを3カメラ単独に表示したり、横につないで表示 ○マスタ画像を平均値や最頻値で塗りつぶしたり修正を行う ○芯ズレを計測し、高さ判定を補正 ○芯曲がりを計測し、芯曲がり量と角度を表示 ○動作検証用にいろいろな検出画面を表示可能 ○闘値確認のため、測定画像に再度闘値を変更し再計測可能 ○検査履歴表に、測定結果を随時記録 ●詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをダウンロードしてください。
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企業情報
弊社は1986年の会社創設以来、長らく日本の最先端の技術を支える半導体付帯事業を展開してまいりました。ハード面 ではクリーンルームをはじめとする、工事製造環境の整備。また、人的要素では半導体技術者の育成ならびにお客様のニーズに即応できるサービス体制の確立に主眼をおいてまいりました。そして昨年は、SEMICON Japanに初出展を果たし多くの 業界関係者と直接触れ合うことで、今何を必要とされているのか、いかなるサービスを創出すべきなのかを改めて学ぶことができました。また、同時に社内の志気も高まっきており積極的な営業活動を実施しております。日本経済の景気もようやく上昇志向となってきたと言われております。しかし、半導体業界だけを見ても海外メーカーの進出、技術力、サービスの向上は著しいものとなっておりますので国際競争力を高めることを念頭に営業展開をしていきたいと考えております。国内はもとより、グローバル化時代に対応して北米とアジアを結ぶ拠点として我が日本そして、空港アクセスに優れている当社の担う役割はさらに高まっていきます。
