今までリアルタイムで測定できなかった半導体の加速度試験が測定できます。
半導体デバイスの品質管理において、動作状況での加速度を印加し半導体デバイスの特性を測定する方法として、衝撃試験機の単独試験や振動試験機を用いた方法で行われてきました。しかし、これらの方法では印加加速度に限界があり、しかも連続的な高加速度を印加することができませんでした。 動的遠心加速度試験装置 Ｍｏｄｅｌ DAT-1は、これまでの培ってきた遠心式加速度試験装置の技術を応用し、高加速度の遠心力により印加し、半導体デバイスの特性を内部に組み込まれている無線により外部と通信し、動的特性を測定するシステムを開発しました。 詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをダウンロードしてください。
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【特長】 ○遠心力に高加速度を連続的に印加 ○半導体からの動作状況をリアルタイムで取り出せる ○内部に組み込まれている無線により半導体デバイスの特性を外部と通信 →動的特性を測定するシステム ○特殊モーター及び独自の回転コントロールシステム →定加速度中における特性、動的な加速度での特性の変化も測定可能 ○動的な特性測定試験に使用可能 →自動車車載用デバイス →航空・宇宙機器で利用する半導体デバイス ●詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをダウンロードしてください。
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有史以来、人間が求めてきた科学技術の進歩は、今やとどまるところを知りません。今日の繁栄は、人間がゆえに成し得た偉業であり、絶え間ないチャレンジ精神と常に新しいものを創造し続ける姿勢に培われたものです。これこそが業界のスペシャリストとしての弊社創業以来テーマでもあります。最新技術に先取の気質を持って望み、高精度・高信頼度を誇るオリジナリティあふれる製品開発に取り組んでいます。 しかしながら、どんなに高度化した環境にあっても、技術は人に寄与するものであって、人間なくして技術は語れません。技術が人間に近づき、調和することが将来のテクノロジーの形と考えます。ハードが充実した時代にこそヒューマニティが重視されなければなりません。三井電気精機は、”ヒューマニティと技術の融合”を目指し、来たる世紀へ夢を持ち続けます。
