『業界初の手法』！独自技（特許出願中）を用いて正しい解を導き出します。
・カスタムの熱抵抗検査装置 ・半導体製品の熱抵抗解析受託（実測及びシミュレーション） 弊社独自技術により、曖昧な部分を多く含んだ半導体実製品PKGの熱抵抗解析を、これまでにない精度で検証することができます。 『業界初の手法』として特許出願中。
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基本情報
【特徴】 ○弊社受託評価用システムの例 ○最大10chでの並列測定が可能 ○定電流、定電圧、定電力の3モードに対応 ⇒2端子制御の制約内で定電力コントロールが可能 ○定電流、定電圧、定電力の3モードにおいてPWMによる発熱動作が可能 ○定常/過渡の両方に自動測定対応可能（過渡は条件付き） ○全波形情報を自動保存し、Viewer機能で集録可能 ○新しいJEDEC規格である“JESD51-14”に対しても、検査装置自体は標準対応（冷却過程での測定） ●詳しくはカタログダウンロードしてください。
価格情報
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納期
用途／実績例
【用途】 ○マイコン、ASIC等の機能デバイスから、PowerMOSFET、IGBT等のディスクリートデバイスまで、熱解析（実測とシミュレーション）を行なえる環境があります。
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企業情報
開発・設計会社として、半導体周辺回路と応用製品の開発・設計・評価 シミュレーション技術により、お客様の開発設計を促進しています。
