表面分析について、分析をご専門としていない開発者や製造者の方にも分かりやすく解説!
○発刊日2007年12月10日○体裁B5判並製本 618頁○価格：本体 33,000円＋税 →STbook会員価格：31,350円＋税 初版 2007年12月 本書は、2007年12月発刊「表面・深さ方向の分析方法」 (ISBN 978-4-903413-30-3)の装丁および価格を改訂したものです。 内容は2007年の書籍と同じですので、ご購入時にお間違えないようご注意ください。 ○著者： 副島 啓義(株) 島津総合科学研究所 / 寺谷 武(株) 住化分析センター / 村山 順一郎 住友金属テクノロジー(株) / 長町 伸治 (株)イオン工学研究所 / 石井 慶造 東北大学 / 柿田 和俊(株)日鐵テクノリサーチ / 西埜 誠 (株)島津製作所 / 石川 真起志 カメカインスツルメンツ(株) / 星 孝弘 アルバック・ファイ(株) / 川田 哲 エスアイアイ・ナノテクノロジー(株) / 吉見 聡 (株)島津総合分析試験センター / 他45名光
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基本情報
第1章 表面分析の選び方 第2章 各種分析方法 第1節 オージェ電子分光法(AES) 第2節 電子線マイクロアナリシス(EPMA) 第3節 ラザフォード後方散乱法(RBS) 第4節 粒子励起X線分光法(PIXE) 第5節 グロー放電発光分析法(GDS) 第6節 蛍光X線分析法(XRF) 第7節 二次イオン質量分析法について(SIMS) 第8節 飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS) 第9節 誘導結合高周波プラズマ発光分光分析法(ICP-OES) 第10節 走査電子顕微鏡(SEM) 第11節 透過型電子顕微鏡(TEM) 第12節 原子間力顕微鏡(AFM) 第13節 X線回折法(XRD) 第14節 X線光電子分光法(ESCA XPS) 第15節 フーリエ変換赤外分光法(FT-IR) 第16節 ラマン分光法 第3章 試料ごとの分析方法 第4章 目的別分析方法
価格情報
本体 33,000円＋税 →STbook会員価格：31,350円＋税
価格帯
1万円 ~ 10万円
納期
※※完全オンデマンド印刷ですので、ご注文後納品までに3日～1週間かかります。
用途／実績例
電子
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企業情報
S&T出版は、研究者・技術者に向けた技術専門書籍を出版しています。
