CWレーザ及びモードロックレーザの波長計測並びに解析を広帯域に渡り高波長分解能で容易に計測可能。しかも近赤外域はかなり低価格。
レーザスペクトルメーターWaveScanは、 コンパクトデザイン。グレーティング回転方式により、シンプルな単一素子のフォトダイオードで高速スキャンレートを実現し、可視･近赤外波長域での測定を低コストで提供。 ●CWレーザやモードロックレーザのスペクトルを0.2nm以下（測定波長レンジによる）の高波長分解能で容易に測定を行う事が可能。 1.1μmより長波長の測定においては、CCDベースの分光器に比べ価格が安価な上、高波長分解で測定が可能。 またWaveScan-USBはPC（Windows）から簡単に操作・制御・データ保存が行える。
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基本情報
●測定波長域/光学バンドパス： 200-1050nm(UV2) / <0.2nm 350-800nm(Blue HR) / <0.1nm 500-1600nm(VIS/IR) / <0.2nm 800-1600nm(IR) / <0.2nm 1000-2600nm(Extented IR) / <0.5nm ●波長精度：±0.2nm , ±0.1nm(Blue HR用) ●スキャンレート：6Hz ●ファイバー入力（SMA, FC/PC/, FC/APC）オプション
価格帯
納期
用途／実績例
CWレーザやモードロックレーザのスペクトルを高波長分解能で計測
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企業情報
当社はレーザ発振器及び光学機器・部品の輸入販売からスタートし、世界の革新的で独創的な電子光学機器の輸入販売と高度な技術サービスの提供を通して発展してまいりました。 主要商品としては、半導体レーザからナノ・ピコ・フェムト秒レーザまで各種のレーザ光源を取り扱い、それらを調整・制御する各種機器及び計測機器を取り揃えております。光分光・分析の分野では高性能マルチスペクトルファイバー入射分光器とその応用計測システム（カラー・発光・吸収・ラマン分光・蛍光・プラズマ・LIBS等)と、サーマルイメージングIRカメラを提供しています。さらに薄膜技術の発展に対応して、薄膜密着強度試験機や光学干渉式膜厚モニタなど、薄膜計測機器を取扱っております。 今後は、ユーザーの要求に迅速に応えるべく、各種アプリケーション及びアフターサービスを充実させてまいります。今後も光とナノテクノロジーの分野にしっかりとした軸足を置き、市場の動向に対応して、皆様のお役に立つフロンティア商社として、更なる発展を目指してまいります。
