フォトテクニカの製品ラインアップ

高効率キャビティ設計でサイズが劇的に小型化。また組み立てが容易で量産に最適化されており、産業用途に最適なほか、理科学用途にも最適。 ビーム安定性のあるウルトラファーストパルスを必要とする産業用途において、内蔵のパルスピッカーにより出力やエネルギーをコントロールし、環境に左右されずに安定したビーム品質と出力安定性を得ることが可能。 フレキシブルで柔軟性の高いBiBurst機能を追加することにより、新しいハイテクな製造産業(家庭電化製品、ICチップ製造、ステント切断、表面機能化、次世代ディスプレイ工場、量子コンピュータ等)において、マイクロマシニングアプリケーション等の新しいソリューションを提供。 材料加工の拡張性：各種金属･セラミック･サファイア･ガラスの穴あけや切断、質量分析用の材料アブレーション、IC チップ製造等の内部加工、多層構造材料加工等各種の高精度な微細加工が実現可能 I-OPAは産業用グレードの光パラメトリック増幅器で、CARBIDEに直付け可能。フレキシブルな波長可変が可能で分光分析や顕微分光に使用され、マルチフォトン顕微鏡用に最適。

• その他加工機械

優れたビーム品質、出射方向安定度と低ランニングコストにより微細加工、マイクロマシンニングに最適。 パルス幅・出力可変機能やパルス・オン・デマンド機能を搭載し、レーザ照射条件の変更が容易に行なえるので、アプリケーション開発や機器組込みに最適。またパルス繰返し周波数の高さ、高平均出力を活かし、S/N の向上と測定時間の大幅短縮など、理化学・研究開発分野に貢献できる。 PHAROS（高平均出力20W@1MHz)とORPHEUS(OPA)と波長拡張ユニットを組み合わせて、最大16μmまで波長可変が可能で分光分析等に最適。 また高出力・高エネルギータイプ（20W, 5mJ/pulse@3kHz) 、極短パルス幅タイプ(>100fs)も加わり、各種加工、アプリケーション開発や機器組み込みに最適。 レーザダイオード直接励起により、大幅な小型化と低消費電力化を実現した高出力極短パルス（フェムト秒）レーザ。 パルス幅・出力可変機能や、パルス・オン・デマンド機能を搭載し、レーザ照射条件の変更が容易に行なえる。

• その他機械要素

特長 ★スキャンレンジ50 psモデルは前例のない時間分解能、50 アトセカンドを達成。 ★エレクトロニクスは本体内蔵となり、TCP/IPを介したSCPIリモート制御可能。 ●TPA測定波長 　　 ：250 – 3200 nm ●PD, PMT 測定波長 ：200 – 3200 nm, or 3 – 12 μm, ●測定パルス幅 　　 ：5 fs – 15 ps or 10 fs – 40 ps or 20 fs – 500 ps (SM2000) ●トリガ入力による低繰返し周波数測定対応可能。 ●位相情報測定FROGオプション追加可能。 ●高精度・高ダイナミックレンジ・低ノイズ：　 18bitにて高分解能アト秒のディレイと新しく開発されたsysytem-on-chipを基本とした設計により、レーテンシが少なく淀みない測定ができより高速に高精度な測定が可能 ●直感的なGUIと統合されたソフトウェアと包括的なデータ解析　　　　 ●自動テスト・リモートコントロール

• その他FA機器

シリコンに液晶をコーティングした(LCoS)技術を採用した反射型SLMは 純粋な位相アプリケーション用のユニークな設計。また、それと独立して 常に新しいレートで直接アナログデータを届けるアナログドライブ技術に より、リップルの殆どない安定した位相安定性を得ることが可能。 スペクトルのチューニング他、各種応用に使用でき、488nm～1650nmまで対応。 SLM-1Kは高速応答を目的とし、最新のPCle高速デジタルコントロ－ラを採用する事で応答時間<1.1ms(<1KHz)にて位相リップル<0.2%で変調する事が出来る。これはHDMIコントロ－ラを使用する場合に比べて応答速度が最大1/8に短縮している。

• 光学測定器

密封構造のオールインワンレーザヘッドは、標準の低電圧DC電源で動作し、単一筐体内に光学部品、ドライブ回路および温調機能が組み込まれている。光デバイスと電子デバイスの高いレベルの集積化およびセミオート生産により、複雑な和周波発生レーザでさえ、優れたコストパフォーマンスを実現. 超低ノイズ、高ビーム品質を特徴とし、計測・照明・アライメント用途など光の基本用途から、ラマン分光や蛍光イメージングなどの化学、バイオフォトニクスへの応用や、装置組込みから理化学実験まで幅広い分野で利用可能。 リニューアルしてより堅牢なボディ構造で、ビーム拡がり角の指向性や位置の正確さが増し、冷却能力も向上している。またUART(Universal Asynchronous Receiver/Transmitter) インタフェースを採用して、USB又はUARTからの制御ができ、より使い易くなっている。 　　

• その他理化学機器

独自のスタッドを試料に接合させ、コンピュータ制御にで荷重をかけて引っ張り試験を行なう。破断が生じた時の荷重を表示し、スタッドの接着面積から換算した単位面積を表示可能。独自開発のエポキシ接着剤(接着力約700kg/cm2）付きのスタッドの使用が最適。 ●薄膜の密着度テスト ●接着剤等、粘着、溶着の強度テスト 1.材料の応力/ひずみ 2.硬質材料の曲げ強度 3.コ-ティング引き倒し強度 4.固定されたダイ等のせん断強度 5.フレキシブル基板の剥離強度 6.硬質基板の剥離強度

• 画像処理機器

AvaSpec StarLineは長年Avantes 社が一般的な分光の応用計測用に開発し提供してきた万能型しかも高パフォーマンスが得られる分光器。 反射・透過率測定、発光測定やカラー計測などの最も一般的な分光アプリケーション並びにプロセス制御用の高速型なども有り、種々の応用計測に対応している。 AvaSpec-VARIIUS-2048/4096CL は、最新のCMOS 技術を駆使したCMOS イメージセンサを採用したCMOS ディテクタ型の次世代進化型分光器。新開発のエレクトロニクスボード（AS-7010）により革命的な次世代型の超高パフォーマンスが実現。 超高速USB3.0 通信とGigabit Ethernetの高速伝送や多メモリー保存が可能で、迷光が殆どなく、高波長分解能での測定が実現している。 最新のCOMSイメージセンサはブルーミングやスミア現象が生じることなく、高度な信号処理により、低ノイズでCCD センサと同等の感度や波長分解能が得られ、しかも費用効果が高いので、次世代に向けて今後ニーズが期待される。

• 光学測定器
• レーザ部品

高度な機能とユーザーフレンドリー設計により、OEMインライン計測対応で各種研究用、様々な産業や分野の幅広いアプリケーションに対応可能。 ●コンパクトサイズ ●CMOS制御（2K-2048ピクセル / 4K-4096ピクセル） ●高感度CMOSイメージセンサにより、高感度で高波長分解能の計測が実現 ●最新の光学ベンチ(NEXOS Bench F=75mm)により迷光が少ない ●温度・波長安定性が高い ●計測の柔軟性（slitサイズの変更が可能） ●機器やシステムとの統合がスムーズ ●優れた再現性が得られ個々の品質安定性が高い ●PCへUSB接続でき、簡単にPCから制御出来る ●PCから充電も可能

• その他計測・記録・測定器

波長設定もPC制御で紫外～赤外域までハンズフリーオペレーション操作が可能。1064nmにて50Hzの繰返しで15mJ、100Hzの繰返しにて9mJの高エネルギーが得られ、紫外域( 260nm ) でも1.8mJのエネルギーが得られる。広い範囲で波長可変でき、高品質のビームが得られるので、計量学や非線形光学等、各種のラボ応用研究用途に最適。

• その他理化学機器

ダイオード励起により長期間にわたりメンテナンスフリー動作を実現 励起ダイオードの寿命は10億ショット以上と長寿命を実現。 フラッシュランプ放電音からも解放され、動作音も静かで静かな作業環境を提供。 NL230の高輝度パルスは、アブレーション加工、リモートセンシングやOPOの励起に最適。 ・最大190mJ @1064nm が得られ、パルス繰り返しも最大100Hz 可能。

• その他エネルギー機器

PRONTO-250は小型でもパワフル、手軽に250Ｗまで簡単に計測出来る、ハンディタイプのレーザパワーメータ。 0.5W～250Wまでタッチパネルから瞬時に計測でき、受光部のダメージスレショルドが高く、市場において最強のアブゾーバー(体積吸収型)で250Ｗまでの計測を可能にしている。 またデータロギング機能を搭載しているのでとても便利で、ラボは勿論のことフィールドでも狭いスペースでも使い易く、理科学用途から産業用途まで使用できる。 エネルギー計測用にPRONTO-500-IPL、高出力用にPRONTO-6K,10K、低出力用にPRONTO-Si　等各種のラインナップ

• 電圧計

幅広い波長域において高い出力安定性を有し、ビーム品質の高い極短パルスを発生出来る。波長変換オプションにより紫外光から中赤外光までPC制御で波長チューニング可能で、しかも最大2MHzの高繰返しを実現。また励起光源の基本波と第2高調波を本体から出射可能。 ORPHEUS-NEO簡単に使用出来る最新型 ORPHEUSは基本型 ORPHEUS-HEは最大5mJ励起エネルギータイプ ORPHEUS-VISは広帯域超短パルス型　　 ORPHEUS-MIRは中赤外広帯域型 ORPHEUS-Nはノンコリニアタイプ ORPHEUS-PSは狭帯域ピコ秒タイプ　

• その他機械要素

LightWire FFS シリーズは標準的なフェムト秒YAG レーザのアンプ用シード光源(CPA)として最適なフェムト秒ファイバーレーザ。 ファイバー付きでアライメントも調整が不要。CHIモデルはコンプレション後、300fs まで短いパルスが得られる。そして12nmまでの広いスペクトル幅のチャープパルスが得られる(FFS200CHI)。またビーム品質：M２<1.1の良質なビームが得られる。 LightWire FPSシリーズは、モノリシック偏波面保存ピコ秒ファイバーレーザ。ターンキー操作、ファイバー付でアライメントも調整も不要。波長可変シード光は、アンプスペクトルとオーバーラップさせることが可能。費用効率が最も高い。 一体化したコントローラから直接ファイバー出力が得られ無駄が無く、ターンキーの簡単操作とモノリシック・オールインファイバーデザインにより、メンテナンスフリーを実現。標準的なYAGレーザのアンプ用シード光源（CPA)として最適。トランスフォーム限界に近いスペクトルバンド幅。

• その他理化学機器

第二高調波(515nm)オプションを装着（HG-FLINT)でき自動切換え可能。時間分解分光、非線形光学、微細構造加工など幅広く使用可能。

• 発振子

理科学研究・機器製造、バイオメディカル実験、精密計測、レーダー通信、材料加⼯、プロセスコントロール、オンライン受信、調査機器等幅広い⽤途に対応可能。

• 発振子

小型で使いやすい分光器を利用して、卓上で簡単に薄膜の膜厚測定が可能なシステム。 分光器はファイバーを替えればレーザの計測、その他いろいろに利用できるのも魅力。 測定サンプルより反射される白色光の干渉パターンを利用して計測し、ソフトにn値とk値がデーターベース化されているものから計測する 構成 ●分光器：　AvaSpec-ULS2048CL-EVO ●光源：　　AvaLight-DHc ●ソフトウエア：　AvaSoft-thinfilm ●ファイバー：　　FCR-7UV200-M ●アクセサリー：　Thinfilm Stage これらをＰＣから制御して1nm の分解能で10nm〜50μm までの膜厚を測定できます。

• 分析機器・装置

AvaSpecファイバー入射型分光器は、オリジナルデザインの迷光が少ない Czerny-Turner型の光学ベンチ(AvaBench)を採用し、さらに極端に迷光が少ない(ULS)光学ベンチ(AvaBench75ULS)を開発。 また背面照射型CCDリニアーアレイディテクタにより、UV量子効率が良くUV域での高感度測定(200-450nm)、及びNIR域(950-1160nm)での高感度測定を実現。 さらに最新エレクトロニクス(AS7010)搭載(USB3.0/ETH)-EVOシリーズ (5Gbps高速通信、1GbpsETH直接伝送、多メモリ保存、外部トリガー機能) を標準化することにより、高速測定が可能。 これらの高パフォーマンスが得られるシリーズをAvaSpec-SensLine と言いAvaSpec-HEROはそれらを代表する中心的な分光器。

• 分光分析装置

レーザスペクトルメーターWaveScanは、 コンパクトデザイン。グレーティング回転方式により、シンプルな単一素子のフォトダイオードで高速スキャンレートを実現し、可視･近赤外波長域での測定を低コストで提供。 ●CWレーザやモードロックレーザのスペクトルを0.2nm以下（測定波長レンジによる）の高波長分解能で容易に測定を行う事が可能。 1.1μmより長波長の測定においては、CCDベースの分光器に比べ価格が安価な上、高波長分解で測定が可能。 またWaveScan-USBはPC（Windows）から簡単に操作・制御・データ保存が行える。

• その他計測・記録・測定器

カナダGentec-EO社製のパワー/エネルギーメータは、高精度であらゆる種類のレーザに対応している。UV〜IRまで一様なスペクトル応答。超薄型、低出力用、高出力用、簡易型プローブ。真空紫外線対応モデルなど、レーザの種類や出力に応じて選べる。またＯＥＭタイプ、機械組み込み型やハンディタイプの簡易型まで多彩なラインナップ。モニターも大画面ＬＣＤ型、ＰＣ制御表示型や２チャンネル対応等用途に応じて各種選べる。広帯域プローブやテラヘルツ用ラジオメータの取り扱いも開始。 レーザビームプロファイラ－も有。

• 光学測定器

高速ファイバーからの光信号を電気信号に変換できる小型、高精度コンバーター

• レーザ部品
• 変換機・トランスデューサ

LPCはCWまたはモードロックレーザのパワーを自動制御し正確に手軽に安定化することができます。ビームの減衰器として、スタビライザとして、またパワーメータとしても使用できる。 ＢＥＯＣ社製レーザパワーコントローラ(ＬＰＣ）は、レーザビーム出力をＰＣで自動制御し、0.025％まで安定化することができる。 主な仕様： 　波長425〜1700nm のCWまたはモードロックレーザのノイズを5KHzまで削減でき、ビーム出力を0.025%まで安定化できる。最大入力4Wまで可能。USB標準装備。GPIBオプション。

• 光学測定器

LightPath社製のIRレンズは 近年開発された Molded BD6TM ガラス素材により、IRレンズの性能が著しく向上している。 従来の高価なダイヤモンド切削のIRレンズ(Si,Ge) に代わる画期的なIRレンズで、熱特性が強化されている。特に焦点距離の長い高感度型はセンサ用としての応用が期待される。例えば自動車に搭載して自動運転のビジョン強化に、熱探知カメラ、サーマル眼等。或いは無人航空機（ドローン）等にも可能性有り

• レンズ

IR Viewerは近赤外域のレーザ光をモノクロイメージで可視化できるもので、軽量ハンディタイプ IC series (Image conversion) ●高解像度：60 LP/mm ●波長域：350～ 2000nm, 350～1700nm, 350～1300nm DIG series (Digital version) ●高解像度：30 LP/mm ●波長域：400～ 1700nm, 400～1300nm ●レンズが選べる ●60時間連続使用が可能　 ●バッテリー（IC series- 60時間）　(DIG series -9時間）（外部電源DC3V, 30mAも可能） ●USBから充電可能 ●ハンディタイプ: 400g　（付属のポストで固定も可能） ●パルスレーザ、CWレーザ対応 ●CCDカメラ用アダプタ使用でPCに表示可能 　

• その他

PhotoSonus Xは最新の小型ダイオード励起ＰＡＩ光源。 高エネルギーDPSS 波長可変ナノ秒レーザとOPO の一体型。ハンズフリー操作でき、PAI 信号を強め効率良いデータ収集を実証。DPSS により低メンテナンスコスト実現。フラッシュランプ型に比べて動作音が静か(60dB)。 PhotoSonus M はより高エネルギー波長可変ナノ秒レーザとOPO の一体型。PAI 光源としてより多くの細胞を画像化する為に開発され、特に高エネルギーを必要とする場合に最適な光源。

• 発振子

●最大200kHz(M6)でパルス間測定が可能： 　12ビットの精度で高繰り返し率レーザの　 　パルスエネルギーをリアルタイムに測定可能 ●最大400万パルスを捉え100 kHzで40秒のデータを保存できる ●紛失パルスやエネルギー闘値以下のパルスの数を把握できる ●幅広いエネルギーレンジ；pJ～mJ ●高データ転送速度並びに高速計測(USB2.0) ●多くの診断機能を持つLabViewソフトウェア付 ●アナログモジュール(APM)を使用することにより、オシロスコープでも　測定可能

• 光学測定器

各種の結晶を利用した音響光学(AO)式強度変調器(AOM)、偏向器(AOD)、光周波数シフターは回折効率がよく、理化学用に産業用に幅広く使用可能。AOM用ドライバーは１チャンネル専用ドライバーのほか、2チャンネルAOM用ドライバーやOEMモデル有。またｘＹ２軸の偏向器(DTD) や Ｑスイッチもある

• 光学測定器
• レーザ部品

統合された最新のプリズムコンプレッサー内蔵によりパルス幅<30fsを実現し、時間分解分光に最適。小型・高繰返しで第2高調波(515nm)発生器又は第3高調波(343nm)発生器を内蔵しているモデルを提供。 ORPHEUS-N はPC制御ノンコリニアOPA。PHAROSを励起光源として使用するため、高繰返し励起が可能で用途により第２高調波(515nm)、第３高調波(343nm)励起モデルから選べる。 ■高繰返し：最大 1MHz ■パルス幅：最短30fs以下 ■波長域：650〜950nm (2H) , 490〜900nm(3H) ( 30μJ@1030nm　励起時)

• その他機械要素

簡単迅速に各種の機能をアクセスでき、レーザパワー/エネルギーの各種計測をリアルタイムで表示可能です。最少時間と最少の労力でこれまでにないパフォーマンスを期待できます。 特長 ●あらゆる種類のディテクターに対応(1μw～30ｋW)(1μJ～20ｋJ) ●112.9x84.7mm　LCDディスプレイ(640x480 ピクセル) ●フル・タッチパネル方式、 ●USB　キーから直接データ保存可能

• 光学測定器

発光計測用のAvaSphere-IRRAD は内径が30 ・50 ・80mm から選定可能で、側面90 °の位置に分光器用SMAポート有り。レーザ、ＬＥＤ ，ハロゲンランプなどの光源の計測に便利で、ＬＥＤ 計測にはＬＥＤ を支えるアダプターを使用。 反射測定用のAvaSphere-REFL は側面ポートの他、上部から８ °傾いた位置にライトソース用SMA ポートを持ち、カラー計測や蛍光分光等多彩なアプリケーションに対応。 オプションで、吸収素材をコーティングしたモデルも対応可能です。＊反射測定用 ハロゲン光源内臓型 (内径50mm)　 ＊AvaSphere-50-LS-HAL-12V ●反射計測用に特別に構築された、5Wハロゲン光源内臓型小型積分球 で標準型の160倍の光を照射可能。 (360-2500nm, 内径50mm,　サンプルポート内径10ｍｍ） ●反射光の暗い或いは弱い材料や近赤外域での計測等に有効。 ●鉱物学等に最適 ＊高出力LED光源の計測用に大口径（102/152/203mm)の積分球も有る。

• 光学測定器
• レーザ部品

山本光学社製のクリアタイプ遮光カーテンは、従来品(33cm)より幅を大幅に広くし（1mの有効範囲）、広範囲で遮光が可能です。表面精度と可視光透過率の向上で高い視認性を実現しています。

• カーテン

あなたの眼をレーザ光から守り、安心してレーザを使用できる保護メガネ。　ガラスなどに貼り付けて周囲を全体的に遮光する、レーザ遮光カーテン・ウィンドウなども有。更に美容用のフラッショランプ対応の保護メガネ、医療用セフティアイガードなども有る。

• レーザ部品

米国Conoptics社は１９81年にコヒーレント社の変調器部門から独立して設立され、EO変調器システム、ビーム偏向システム等を中心としたレーザ周辺機器を製造して、研究ラボやレーザディスク製造メーカー、国立研究施設や大学等に広く使用されています。またConoptics 社はマルチフォトン顕微鏡をシステムアップするためのオプティクスやアクセサリーを開発したパイオニア企業です。研究開発に有効な各種アプリケーションのシステムアップに最適なレーザ周辺機器を提供しています

• 光学測定器

Avantes社の光源、光ファイバー、アクセサリーは、ファイバー入射型分光器と合わせて種々の計測のシステムを構成します。 各種測定構成： カラー測定、UV/VIS吸収・透過測定、発光測定、膜厚測定、ラマン分光 AvaLight-HAL-S-MINIは、可視域～近赤外域でベストな光源が得られるタングステン・ハロゲン光源 特長 ●ドリフトやランプ退化もなくロングライフ仕様 ●波長レンジ：360-2500nm ●外部へのファイバー出力 ●カラー計測に最適 AvaLight-DH-Sは、重水素・ハロゲン光源で紫外から近赤外まで広範囲に対応なパワフルで万能型の光源 特長 ●重水素とハロゲンを組み合わせた光源でパワフル ●ドリフトやランプ退化もなくロングライフ仕様 ●波長レンジ：190-2500nm ●真空紫外用オプション AvaLight-DHcは、紫外域～近赤外域で安定した光源が得られる重水素ハロゲン光源 特長 ●ドリフトやランプ退化もなくロングライフ仕様 ●波長レンジ：200ー2500nm ●コンパクト＆低価格 ●吸収測定（UV/VIS/NIR) に最適

• 光学測定器

NT340シリーズ 特長 ●励起レーザ一体型ナノ秒OPO ( 355nm励起 ) ●チューニングレンジ：192～4400nm ●最大パルスエネルギー：60mJ (VIS), 10mJ (UV), 15mJ (MIR) ●パルス幅： 3～5ns ●パルス繰り返し：10Hz, 20Hz ●線幅：< 5cm－1 　(ナローバンドモデル：< 3cm－1 ） ●ファイバー出力、励起レーザビーム（355nm)と専用出力ポート(532nm) ●フラッシュランプの交換が簡単

• 光学測定器

ピストル型のハンディな操作で、試料表面の汚れを除去できる非破壊タイプクリーナー。

• 分析機器・装置
• 画像処理機器

シグナルトランスポーターはプラズマ物理実験のデータ取得、高圧力機器の信号変換及び制御、高品質ビデオの変換、ファラディシールド、反EMI環境下においてノイズフリーの正確な信号の提供などの応用に最適な機器と言えます。 【特徴】 ○1ペアでファイバーからの光信号と電気信号の変換が自在に可能 ○トランスミッター(T)でデジタル化されたアナログ信号を光信号に変換して 　光ファイバーで伝送して、レシーバー(R )で受信し電気信号で再現 ○デジタル入力タイプ・アナログ入力タイ プをご用意 ○チャンネル許容量 <50Mb/s ○アナログ入力は1Vと5Vから選択 ○デジタル信号はDC～48Mbsまで変換 ○シングルモード光ファイバーでTTL信号を16デジタルチャンネルまで変換　 ○アナログ信号を12ビットの精度で100Ms/Sまで変換 ○LVTTL,CMOS/TTLデジタル入力

• 変換機・トランスデューサ

LX-SPIDERはウルトラファーストレーザの位相・強度測定にSPIDER法を用いて、シングルショットでの測定を可能にした機器で、リアルタイムに位相測定・解析が可能。　超小型でアライメントが容易で自動較正機能を装備している。 特長 ●波長域：750~900nm ●パルス幅：光学セット1・・・16~150fs 光学セット2・・・70~300fs ●Ti:Saレーザのスペクトル位相・強度および時間的な強度を測定し性能をチェック ●シングルショット測定 ●リアルタイム解析 ●自動較正機能搭載で納入調整不要

• その他FA機器

●サーモパイル型、パイロエレクトリック型、フォトディテクタ型、すべてのパワー及びエネルギーディテクタに対応可能 ●ノイズレベルの2fJ～のエネルギーを計測PCへ直接接続し制御可能な低価格モニター ●ユニークなノイズ制御アルゴリズムを採用することにより、これまで難しかった低出力(pW)、低エネルギー(fJ)の正確な計測が実現 ●計測表示、データ取得及び解析がリアルタ イムに可能（最小、最大 平均、標準偏差、 RMS 安定性 ●外部トリガー機能を有し、パルスレーザやデジタルチョッパーとの複数の同期が可能 ●超コンパクトサイズのモニター ●シリアルコードコマンド

• 光学測定器

LightPath社製、非球面レンズは、高品質のガラスモールドレンズで、回折限界の良質ビームが得られ、集光用照準用に最適。ARコートもアプリケーションに応じてご指定頂けます。

• レーザ部品
• その他光学部品
• レンズ

光パラメトリック発振器(OPO)、Levante及び Levante-Emerald はモードロックNd:YVO4レーザの第2高調波を励起光源に使用し、可視〜近赤外で高出力かつ狭線幅のフェムト秒・ピコ秒パルスを得る為に最適な光源です。近赤外域 (680-2300nm)で連続的に波長を変更できるので、CARS顕微分光のような多波長励起の実験用に理想の光源。（532nm励起） 制御ソフトをリニューアルして全自動制御が可能になり、波長チューニングも簡単。

• その他機械要素

顕微鏡下でフェムト秒・ピコ秒レーザパルスを測定するための測定機で、対物レンズ下でも測定可能です。 顕微鏡導入前のパルス幅も光軸を切り替えることで、 容易に測定できます。

• 光学顕微鏡

ドイツAPE社製のpicoEmeraldは全自動で極短パルス列を時間的に空間的にオーバーラップさせて、1064nmのレーザ出力、OPO信号、OPOアイドラーの3つを提供。確実なパルス同期が行なえ、全自動制御でハンドフリーオペレーションも可能です。高品質なピコ秒パルスが得られCARSや顕微分光に最適な1台。 CARS、SRS以外にも、誘導ラマン顕微分光用途、多光子蛍光や第二高調波発生を含むマルチモーダルイメージン グに最適。 700～1950nmで 波長可変でき、変更しても2色の光パルスは、時間的・空間的に完全オーバーラップする。

• その他機械要素

515nm/343nm/258nm の出力波長を簡単に切り替えたり、3 波長同時出力も可能です。 同社の高出力フェムト秒レーザ　ＰＨＡＲＯＳ　に使用

• 光学測定器

干渉計、ポンプ＆プローブ測定光学系や相関計の光学部品を移動、位置決めや、高速にスキャンすることができます。低質量、低フリクション設計のスキャニングユニット部分は、高精度、高速スキャニングだけでなく、広いディレイレンジにも対応します。スキャニングユニット部は、付属のコントローラーまたは外部信号源で駆動することができます。ポジションセンサー内蔵により、位置情報を正確に電気信号として得ることができます。 USBタイプのみに変更（2012）

• 光学測定器

連続波長可変ウルトラファーストレーザ用の光パラメトリック増幅器(OPA) TOPASは、最も高い変換効率、広い波長チューニングレンジで、 使い易いので、研究用・産業用の世界的ベストセラー品となっている。

• その他FA機器