シャドウモアレ測定による加熱時反り測定
TherMoire AXP2.0 はシャドウモアレ計測技術を利用し多彩なオプションモジュールによる表面解析が可能です。 ユーザー指定温度プロファイル環境における、サンプルの表面形状を可視化します。 加熱時反り測定はもちろん マイナス温度環境下での表面挙動解析、CTE値 算出も可能となオプション機能も選択可能です。 【特徴】 ○最大サンプルサイズ：400mm×400mm（シャドウモアレ測定） ○データ取得速度（1ポイント約2秒） 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
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基本情報
【特徴】 ○グレーティングの選択により、Z軸分解能 1μm ～ 5μm の選択が可能 ○DICオプション追加でCTE値算出可能 ○Convectiveモジュール使用で、-50℃から280℃までの対流冷却、加熱が可能 ○その他Studioソフトウェアによる様々な測定、解析ソリューションを提供 →用途に合ったオプション機能の追加が可能 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
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企業情報
プリント基板を始めとして、半導体・ＬＣＤ・ＰＤＰ等主要電子部品の製造装置、検査分析装置の販売を通して日本国内の電子部品メーカー様へ最先端の技術を提供しております。業態は商社ながら「技術を語れる商社」として長年のレジスト塗布経験を活かし、様々な顧客に最適なソリューションをご提供し、これからも日本の電子部品産業に貢献して参ります。