S･NAP-Pro による実測データの基準面の交換手法
伝送線路の特性などを実測する場合、測定データ中にネットワークアナライザの校正基準面と被測定物との接続部におけるコネクタや同軸線路といった不要な要素が混入する場合がある。ネットワークアナライザの校正基準面として被測定物端で校正を行うことができれば最適であるが、校正治具の都合上現実的には難しい場合が多い。測定時に不要な要素の除去が困難な場合、正確な被測定物のデータを得るためには、後処理にて不要な要素を除去する必要がある。この不要な要素は多くの場合コネクタや同軸線路といった場合が多く、これらのデータが既知であるとすれば、計測後S･NAP-Pro を用いてこれらの要素を除去することが可能である。 【特徴】 ○データが既知であるならば、 容易に不要な要素を測定データから差し引くことができる ○単位長さあたりの減衰量は長さが短い場合‘０’で差し支えない 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
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基本情報
【一口講座】 [一般基礎編] ○伝送線路の基礎 ○スミスチャートの基礎 ○節点解析法の基礎 ○非線形回路の基礎 ○トランジスタ整合回路設計の基礎 ○低雑音増幅器の設計手法 ○大信号Sパラメータのシミュレーション ○実測データの基準面交換手法 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
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企業情報
＜会社説明＞ ・高周波・マイクロ波回路/電磁界シミュレータ「S-NAP Microwave Suite 」の開発・販売 ・実装型プリント板シミュレータ「S-NAP PCB Suite 」の開発・販売
