広範囲レンジ対応の非接触(渦電流法)シート抵抗/抵抗率 多点測定器
『NC-80MAP』は、複数タイプの非接触プローブによる広範囲レンジ対応の 抵抗測定器です。 搭載するプローブ数およびプローブタイプはご要望により、変更可能です。 エッジ8mmからの多点測定も可能です。 また、非接触の渦電流方式のため、ダメージを与えずに測定できます。 お客様の要望に応じ、様々にカスタマイズ可能です。 【特長】 ■非接触式 ■セミオートタイプ ■多点測定システム ※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードして下さい。
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基本情報
【測定仕様】 ■測定対象 ・半導体・太陽電池材料関連(シリコン、ポリシリコン、SiCなど) ・新素材・機能性材料関連(カーボンナノチューブ、DLC、グラフェン、 銀ナノワイヤーなど) ・導電性薄膜関連(メタル、ITOなど) ・シリコン系エピタキシャル、イオン注入サンプル ・化合物半導体関連(GaAs Epi, GaN Epi, InP, Gaなど) ・その他(※お問い合わせください) ■測定サイズ:2~8インチ(オプション:12インチ) ■測定範囲 ・抵抗率:1m~200Ω・cm(全プローブタイプの合計範囲/厚さ500μmの 場合) ・シート抵抗:10m~3kΩ/sq(全プローブタイプの合計範囲) ※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードして下さい。
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