MEMSデバイスの測定に好適！温度環境下測定にも対応
『ULTRA P』は、加速度センサー、ジャイロセンサー等MEMSデバイスの ファイナルテスト用に開発されたハンドラーです・ 独自の搬送方式を用いることで最大96サイトの同時測定数を実現し、低温・ 高温測定、6DOF（3ポジション、3軸ジャイロ）の測定が可能。 また、研究開発用にマニュアル測定を行える『ULTRA L』という測定部 ユニットも準備しております。 【特長】 ■多数個同時測定（～96DUT） ■高精度温度制御（±1℃以内） ■60OFでの測定が可能 ■UPH20,000個以上を実現 ■磁気テスト（オプション）が可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【仕様】 ■供給・収納 ・JEDECトレイ：トレイtoトレイ ■対象デバイス ・種類：QFP、QFN、BGA、CSP 他 ・サイズ：2×2mm～ ■測定 ・同時測定数：2~96 ■温度測定 ・温度：‐40℃～＋125℃標準 ‐55℃～＋150℃オプション ・分解能：0.1℃ ・精度：±1℃ ・安定度：±0.1℃ ・熱源：ヒータ5.2Kw ・冷熱源：LN2（20～40PSI） ・制御方式：PID制御 ・検知方法：温センサ ■測定ユニット ・1次軸（Rrimary Axis）：‐360°～＋360° ・2次軸（Secondary Axis）：0°/＋90° ・3次軸（Third Axis）：0°/＋90° ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
株式会社テセックは、半導体検査装置であるハンドラ、テスタおよびパーツ等の開発・製造・販売を行っている企業です。創業以来培ってきた測定技術により、ハンドラ、テスタを核とし、半導体製品の高品質・高性能を担保する一翼を担い、省エネルギー、低炭素化社会の要求において、低消費電力、高効率電力変換に重要なパワーデバイスの測定で、リーディングカンパニーとして世界に貢献し「TESEC ブランド」を確立してまいりました。また、複雑な測定環境における正確な測定技術と独創的な測定方式により、大幅な生産効率の向上を可能にしたMAP (Matrix Alley Package)System、Strip Test Systemをはじめとした高付加価値の検査装置の提案を行い、高い評価もいただいております。