細く絞った電子線を試料に照射！結晶方位や結晶構造の解析もできる電子顕微鏡！
『FE-SEM（電界放射電子銃式走査型電子顕微鏡）』は、汎用SEMよりも更に細く 絞った電子線を試料に照射、走査することによって、より鮮明な拡大像などが 得られる装置です。 また、細く絞った強い電子ビームを利用して結晶方位解析法（Electron Back-Scatter Diffraction；略してEBSD）を用いると、結晶方位や結晶構造の解析を行うことも できます。 【適用対象】 ■金属材料全般 ■セラミックス ■繊維（蒸着処理必要） ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【観察項目】 ■40～500,000 倍での表面形態観察 ■40～100,000 倍での反射電子像観察 ■エネルギー分散型Ｘ線分析装置（EDS）による元素定性・半定量分析（B～U） ■微小領域の元素同定（定性分析・半定量分析） ■EBSD による結晶方位や結晶構造の解析 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途／実績例
【用途】 ■原料鉱物微粉末の表面形態観察（無蒸着観察） ■ステンレス鋼における鋭敏化状態（炭化物生成）と結晶方位との関係調査 ■溶接金属凝固組織の結晶方位解析 ■一方向凝固合金の結晶方位解析 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
神鋼溶接サービス株式会社は、溶接トップメーカーの神戸製鋼所で長年に亘って培われてきた人材・設備・技術ノウハウをベースに豊富な経験と高い技術にもとづいて、主に金属材料の溶接・接合に関わる試験・調査・解析および溶接研修を提供する会社です。 常にお役に立てるお客様の身近なパートナーをめざし、努力してまいります。
