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反射率測定装置 MSP-100

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最終更新日:2018年10月05日

株式会社渋谷光学
株式会社渋谷光学
  • 公式サイト

かつてない低コストで実現

●特殊ハーフミラー(特許取得済)の採用により、裏面反射光をカットし、裏面処理無しで短時間で正確な測定ができます。(薄板0.2mmの反射率測定が可能:×20倍対物レンズ使用時) ●レンズ曲面、コーティングむらも測定可能です。(試料面に微小スポット(φ50μm)を結ぶ) ●低反射試料でも短時間で再現性の高い測定ができます。(独自の光学設計により光量を最大限に取り込み、512素子のリニアPDA、16bit A/Dコンバータ内蔵、USB2.0インターフェース高速演算でスピーディな測定を実現) ●色度測定、L*a*b*測定ができます。分光反射率から分光測色法に基づき物体測定ができます。 ●Microsoft Excel(R)形式でのデータ保存が可能です。 ●単層膜を非接触、非破壊で測定ができます。 ●同一の画面上に複数の測定結果を表示機能付きです。測定結果の比較が容易になります。

    その他計測・記録・測定器
reflect02.jpg

反射率測定装置 MSP-100

reflect02.jpg
reflect02.jpg
  • 関連リンク - https://www.shibuya-opt.co.jp/m_reflect.html

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基本情報

測定波長: 380~1050nm 測定再現性: ±0.2%(380~450nm)、±0.02%(451~950nm)、±0.2%(951~1050nm) 試料側N.A.: N.A. 0.12(10×対物レンズ使用時) 試料の測定範囲: φ50μm(10×対物レンズ使用時) 試料の曲率半径: -1R~-∞、+1R~∞ 表示分解能: 1nm 測定時間 : 数秒~十数秒(サンプリング時間により異なる) 外形寸法 : (W)230×(H)560×(D)460mm(本体のみ) 使用温度範囲: 18~28℃ 使用湿度 : 60%以下(結露なきこと)

価格情報

4,000,000円

価格帯

100万円 ~ 500万円

納期

詳細はお問い合わせください

※お問い合わせください。

用途/実績例

微小領域、曲面、極薄試料の高速、高精度測定。 デモのご希望がございましたらお問い合わせください。

企業情報

株式会社渋谷光学

株式会社渋谷光学

光学機器

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渋谷光学は、光学関連製品の設計・製造・販売を行う企業です。 1963年に創業し、埼玉県和光市に本社を構えています。 60年にわたり培った設計と加工ノウハウに基づき、お客様のご期待に応える品質、納期、価格をご提供します。 2024年よりレーザー加工機メーカー、SUPERWAVE社の販売代理店となりました。 SUPERWAVE社はISO9001およびCEマークを取得し、高品質で信頼性の高いレーザー精密加工の高効率化に貢献しています。 レーザー加工機をお探しのお客様、またレーザー精密加工についてのお困り事も、渋谷光学までご相談ください。 「こんな加工がしたい」「カスタムはできますか」「どのレーザーを選べば良いですか」レーザー加工に関するお困り事なら渋谷光学へご相談ください。 試作製作や当社内でのお客様お立ち合いでのデモ加工も可能です。レーザー加工機の導入のお手伝いもします。

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