数十nsecの高速検出回路を全chに搭載！低ノイズ計測可能なテスター
『HVUαシリーズ』は、J-RAS株式会社製の高電圧絶縁信頼性評価装置です。 数十nsecの高速検出回路を全CHに搭載し、より進化した信頼性試験を実現します。 100n秒以下の高速イベント計測機能で部分放電も検出。 CH個別電源搭載＆CH個別制御で全CHに異なる印加電圧設定が可能です。 機械式リレーによるスキャンが無いので連続試験中の故障やトラブル無し。 トライアキシャルケーブルによるアクティブガードで低ノイズ計測を実現します。 【特長】 ■100n秒以下の高速イベント計測機能で部分放電も検出 ■CH個別電源搭載＆CH個別フィードバックで各サンプルに安定した電圧印加 ■短絡検出回路のCH個別搭載で瞬間的なサンプル短絡にも追従 ■専用ソフトウェアによりグラフ表示やデータ収録可能 ■5チャンネル単位で需要に応じてシステム構成可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
この製品へのお問い合わせ
基本情報
【その他の特徴】 ■5000V の高電圧出力 ■高速検出回路：絶縁劣化の兆候を捉える ■抵抗値データと同時計測も可能 ■CH個別電源搭載＆CH個別制御で全CHに異なる印加電圧設定が可能 ■機械式リレーによるスキャンが無いので連続試験中の故障やトラブル無し ■トライアキシャルケーブルによるアクティブガードで低ノイズ計測を実現（計測側） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途／実績例
【用途】 ■HV、EV カー向け部品等の高電圧デバイス・搭載基板の試験に ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
カタログ（1）
カタログをまとめてダウンロード
企業情報
当社は人財資源を大切にし、お客様の信頼の礎に堅実経営を実践し成長してまいりました。 人と人とのつながりを大切にし、お客様からその存在意義を認めて頂ける会社として存続して行こうと決めています。 そして世の中は変わりつつあります。それもかなりのスピードで。 私達は過去の成功体験を忘れようと考えています。従来の方法を踏襲しても新しい価値は何も生まれません。 他所ではしないこと、出来ないことに注力し私達の全精力を資源投入して行きます。 小さくてもお客様に、より信頼感を得、感動してもらう会社になろうと思っております。