搭載治具全体の測定データから、Sパラメータデータの抽出が簡単！
「In Situ De-embedding(ISD)」は、被測定物を含む搭載治具全体の 測定データから、ディエンベディングを行い、被測定物のみ Sパラメータデータの抽出を非常に簡単な操作で行えるソフトウエアです。 また、ディエンベディングの際に、Sパラメータは時間軸でも補正が行われ、 パッシビティ、コーザリティを満足する結果が得られます。 【特長】 ■一般的なTRL法等のほかの手法に比べ、簡便かつ精度良く 被測定物のみのデータを抽出することができます。 ■コンデンサ、インダクタ、抵抗、フィルタ、IC等の高周波部品、 差動デバイスや高速伝送用コネクタ等の多端子部品、オンウエハで 測定される高周波素子等、Sパラメータで評価されるものに対して、使用できます。 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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【その他取扱製品】 ■Advanced SI Design Kits(ADK) ■Material Property Extractor(MPX) ■WAVE 3D など ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
ビフレステック株式会社は、光ディスク関連の技術開発、 電子デバイス開発(トランスデューサー、センサーを含む) 及び各種音響機器の商品開発等を行っています。 商品開発分野の技術エキスパート集団として、近年はエネルギー、 ヘルスケア関連業務分野の技術開発受託が急拡大しています。 ご要望の際は、お気軽にお問い合わせ下さい。
