厚さの絶対値が瞬時に測定可能！0.1μmの測定精度を維持
【赤外光で厚さを計測】 赤外光は特定の物質の中を透過します。この性質を利用して特定の物質の厚さを非接触で計測する技術です。シリコンウェハー、サファイヤ、ガラスなどを非接触にて厚さ・形状を測定します。光干渉方式、変位計方式などニーズに合わせた測定機を提案・開発します。 【特長】 ■赤外光を通す物質であれば材質変形させることなく厚さ測定が可能 ■赤外光方式では絶対値を計測することが可能 ■測定距離は約1000mmまで任意に設定することが可能 ※詳しくはお問い合わせいただくかPDFをダウンロードしてご覧ください。
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基本情報
非接触で厚さを計測する方法としてはレーザーや静電容量などが一般的ですが、これらは変位計であり絶対値を測ることは出来ません。当社の赤外光方式では絶対値を計測することが出来ます。 【基板事業について】 基板設計、アートワーク、試作、量産、品質まで一環した生産体制を整えています。お客様からの基板仕様にて開発・設計した基板をチップ実装、リード実装、品質検査まで一環で行います。 ※詳しい開発実績など詳細についてはお問い合わせいただくかPDFをダウンロードしてご覧ください。
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企業情報
私たち 昭和電子工業（ＳＥＣ）は、基板事業を主軸として継続してまいりましたが、2007年9月 不二越機械工業（ＦＭＣ：長野市）の子会社となり現在では、基板事業のみならず「測定機事業」「ソフトウェア事業」と多岐にわたりお客様のニーズにあった開発・設計をしております。 長年にわたりお客様にとってのパートナーを目指し一つひとつ積み上げた実績と厚い信頼を目指し日々まい進していきます。 更に皆様に選ばれる企業であり続けるために、真に役立つ・製品の開発やサービスの提供を通じて、お客様にとっての「価値」「発展」への提案に努めてまいります。
