信頼性試験から故障解析レポートまでサポートします！
菱進テックでは、半導体検査（ウエハテスト）サービスを行っています。 自動車向け製品の品質管理として、良品チップの更なる品質向上を行うため、 ウエハテスト結果より分布外れチップを検出し不良化する OST（Outliers Screening Test）などの技術を提供。 その他に静電気管理や地震対策、信頼性試験などがあります。 【ウエハテストの技術】 ■PAT(Part Average Testing) ・目的：テストの個別項目の測定値について、分布を算出、 主分布より外れたデータのチップを不良化 ■GAT(Geometric Analysis Testing) ・目的：テスト結果のマップデータにて、ウエハ上の位置的な分布より、 良品分布から外れたチップを検出、不良化 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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【菱進テックの特長】 ■ご依頼 (サンプル) ↓ ■初期測定 ↓ ■信頼性試験 ↓ ■試験後測定 ↓ ■レポート作成 ↓ ■お客様へご報告 ◎信頼性試験から故障解析レポートまでサポート ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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当社は、半導体ニーズを可視化し、柔軟かつ高精度な半導体試験を行います。 お客様のご要望に応じ、製品仕様、テスト仕様に合わせ、テスト手法構築から、 テストプログラム開発、テストボード・プローブカードの開発まで柔軟な 対応が可能です。まずはお気軽にお問合せください。
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