モデル1100-LUPは、ICに対するラッチアップ試験を簡単かつ正確に実施することができます。
モデル1100-LUPは、専用のテストヘッドと電源を組み合わせたラッチアップ試験機でお客様のニーズに応じたシステムを安価に構築することができます。またPCのコントロールソフトでラッチアップ試験の開始から結果収集まで自動で実行できます。
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基本情報
特長・機能 ○ JEDEC､JEITA､AEC､ESDA規格適合 ○ 電流パルス試験、電源過電圧試験が標準仕様 ○ 最大３電源が接続可能 ○ デバイスピンへのプルアップ/ダウン設定が可能。 ○ PC画面上でI－Vグラフを表示しながら試験可能。 ○ サーモストリーマーを使用して最大１５０℃～１７５℃までのラッチアップ試験可能。
価格帯
100万円 ~ 500万円
納期
用途／実績例
C-MOS半導体
企業情報
弊社は1977年に設立以来、多くの有力企業の半導体、電子部品の開発に貢献してきました。高速・高圧技術を始めとした静電気に関するノウハウをベースに、アナログ信号を高精度に計測・解析する各種製品およびシステムの製造、販売を行なっています。
