レーザ回折・散乱&動的画像解析式!高精度な粒子径分布と画像解析による形状評価を1台で実現
『SYNC』は、高精度な粒子径分布測定と画像解析による形状評価を 1台の装置で実現した粒子径分布・粒子形状測定装置です。 3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0~165度の 高角度にて連続面として検出し、粒子径分布の高分解能測定を実現。 円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、 フェレー径、等の評価が可能です。 【特長】 ■測定範囲:粒子径:0.02~2000μm 画像解析:5~2000μm ■高精度な粒子径分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現 ■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの 粒子径分布(粒度分布)測定 ■円相当径、楕円相当径(短径・長径)、フェレー径(短径・長径)、 円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【測定事例】 ■レーザ回折・散乱法による粉粒体全体の粒子径分布評 ■動的画像解析法による個々粒子の形状解析・凝集体評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
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用途/実績例
【用途】 ■カーボン・トナー・セメント・セラミックス・金属粉・樹脂粉 穀物・原薬・電子部品・医薬品・香粧品・食品など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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当社は粉粒体物性測定装置の総合メーカーです。「粉粒体」のプロフェッショナルとして常に業界をリードする技術とサービスをご提供します。