クランプ部は独立した4点止めを採用！面状体サンプルの負荷を与えない捻回試験を実現！
『DMLHB-FTシリーズ』は、フレキシブルディスプレイやウェアラブルデバイスのような面状体サンプルの捻回耐久試験が実現できます。 サンプルの両端のクランプ間をロープで接続して揺動動作とスライド動作を連動させることによって、捻回軸方向の張力をサンプルに与えずに捻回試験が可能です。 面状体サンプルを捻じると中央に4隅を引き付ける力が生じるため、クランプ部を独立した4点止めにすることで、より自然な動きが可能です。 【特長】 ■捻回試験を具現化するアタッチメント ■サンプルに負荷（張力）を与えずに捻回試験が可能 ■クランプ部は独立した4点止めを採用 ■CEマーキング適合品 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ※英語版カタログもダウンロードいただけます。
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基本情報
【ラインアップ】 ■DMLHB-FT（シンプルオペレーションタイプ） ■DMLHP-FT（ポジショニングタイプ） 【仕様】 ・サンプル厚：最大1mm ・サンプルサイズ：30mm×60mm～210mm×300mm ・曲げ角度：0～±90° ・試験速度：10～90r/min（DMLHB-FT） 5～90r/min（DMLHP-FT） ・供給電源：AC100V-240V, 50/60Hz, 100VA ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ※英語版カタログもダウンロードいただけます。
価格帯
納期
用途／実績例
【対象サンプル】 ■面状体サンプル ・フレキシブルディスプレイ ・有機ELデバイス ・バリアフィルム ・フレキシブル基板 ・フラットケーブル など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ※英語版カタログもダウンロードいただけます。
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企業情報
ユアサシステム機器株式会社は、世界の製品開発の動向や規格などを 素早くキャッチし、必要になるシステムを研究開発します。 そして、製品開発段階における効率化や自動化を実現する様々な 問題解決のためのシステム、豊富な経験を活かして「機械」「電気」 「ソフトウェア」を組み合わせ、総合FAシステムを提供。 R&D段階からシステムを提供するからこそ、LA、FAで良いシステムが 提供できると考えています。