品質の見える化をサポート！ライン生産性を確保出来る高速検査を行います
『SEL-V170AL』は、IC、FPCの接合ズレ量の検査と接合部の圧痕数 カウントを、取得する検査画像に応じた好適な光学系、照明を 採用して高精度な検査を可能にしたACF接合検査装置です。 ズレ検査と圧痕カウントをそれぞれ独立したステージで行う事により、 検査タクトの高速化を図り、製造ラインの生産性を確保。 生産管理情報に基づき、品質トレンドを見える化して製造ラインの 管理が容易になります。 また、2枚搬送できる「V170Ax3」もご用意しております。 【特長】 ■接合のズレ/圧痕カウント/異物を好適な光学系を用い検査する ■ライン生産性を確保出来る高速検査を行う ■品質の見える化をサポート ■1枚搬送のみ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【検出性能】 ■圧痕検査：10回繰り返し測定において、平均値個数±（平均値×15%）以内 ■異物検査：10回繰り返し測定において、異物抽出すること ■FPC位置ずれ検査（ユニット）：10回繰り返し測定において、3σ≦1μm ■Dr位置ずれ検査（ユニット）：10回繰り返し測定において、3σ≦1μm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
株式会社昭和電気研究所は、画像処理装置や非破壊検査計測装置、各種検査装置など計測・制御に重点を置いた研究開発型電子機器メーカーです。「ACF接合検査装置」や「ウェハ検査装置」といった製品を取り扱い、ハード、ソフトの開発から製作、メンテナンスまで一貫体制を確立しております。また、特定ユーザー向け製品の開発並びに委託製造も承りますので、お気軽にお問い合わせください。