異物候補と気泡の切り分けが可能！端子間異物を好適な光学系を用いて検査します
『SEL-V170BT』は、端子と端子の間にある異物候補を取得する画像に 応じた好適な光学系、当社独自の照明を採用して高度な検査を可能とした 端子間異物検査装置です。 ICのIN/OUTの間に検査枠を設ける事で異物候補の検出ができ、異物候補の 大きさ、輝度/色相/彩度のヒストグラム、異物と気泡の面積差と面積比の比較、 異物平均輝度等の設定を段階的に切り分けて異物候補を検出します。 【特長】 ■端子間異物を好適な光学系を用いて検査する ■端子と端子以外でも検査が可能 ■詳細設定により異物候補と気泡の切り分けが可能 ■「SEL-V170AL」と連結可能 ■1枚搬送のみ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【仕様】 ■パネルサイズ：3"～17.0" ■検査タクト：事例 7"（Dr×4/FPC×1/約16sec） ■検査精度：繰り返し精度 L,W,S：平均画素数≦15%以内 ■Utility：電源：3相220V 50/60Hz 5.0kVA、Air：10L/min 0.45～0.8Mpa ■外形寸法：L1,200×D1,000×H1,600mm（ライン連結時V170AL）L4,200×D1,000×H1,600mm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
株式会社昭和電気研究所は、画像処理装置や非破壊検査計測装置、各種検査装置など計測・制御に重点を置いた研究開発型電子機器メーカーです。「ACF接合検査装置」や「ウェハ検査装置」といった製品を取り扱い、ハード、ソフトの開発から製作、メンテナンスまで一貫体制を確立しております。また、特定ユーザー向け製品の開発並びに委託製造も承りますので、お気軽にお問い合わせください。
