材料をマクロレベルから分子レベルに至るまで精密に解析！
当社では、無機化合物の『組成分析・構造解析サービス』を提供しております。 電子材料や半導体、金属、セラミックス、セメント、触媒など 無機材料の元素分析と化合物組成の解析、結晶構造・組織の解析、 熱的性質の解析など広範囲に実施。 無機化合物に対する深い知識と試料の高度な前処理技術をベースに、 材料をマクロレベルから分子レベルに至るまで精密に解析し、 新素材開発に貢献します。 【分析例】 ■精密格子定数の決定 ■温度上昇に伴う相変化の追跡 ■結晶性、配向性、結晶子径の測定 ■反射率解析による多層薄膜構造評価 ■リートベルト法による結晶構造解析 など ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
この製品へのお問い合わせ
基本情報
【主な機器】 ■試料水平型多目的X線解析装置（XRD） ■表面構造評価用多機能X線解析装置 ■単結晶X線構造解析装置 ■蛍光X線分析装置（XRF） ■全反射蛍光X線分析装置 など ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途／実績例
※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
カタログ（1）
カタログをまとめてダウンロード
企業情報
当社は、1987年に宇部興産株式会社の研究開発部門から、 分析・評価グループが分離・独立して誕生致しました。 以来、トップレベルの分析および関連技術を通してお客様のさまざまな ニーズにお応えすることで、お客様と社会の発展のお手伝いをさせて 頂いております。 幅広い産業のお客様から、有機、無機、各種材料の組成分析、構造解析、 表面分析、形態観察、超微量分析、安全性評価など種々の分析・評価の ご要望を頂き、それに対して『迅速に・精緻に・確実に』をモットーに、 お客様の課題解決に十分貢献できるように、ご満足いただけるように 努めてまいります。