2.4mm、および3.5mm同軸コネクタを持つ被測定物との接続が可能！
当社では、10MHz～50GHzの周波数帯域で、高周波信号の反射、伝送特性を 測定できるネットワークアナライザ『PNA-X N5245A』を取り扱っています。 4ポートでの測定が可能で、増幅器、ミキサ、周波数コンバータなどの デバイス測定のための多機能なシングル接続マイクロ波テスト・エンジンを 装備しています。 【特長】 ■校正時には校正キットEcal（2.4mm、3.5mm）と接続用アダプタを 用いることにより、容易に校正が実施可能 ■タッチスクリーンを搭載しており、操作性も向上 ■マウス、本体ハードキーでも操作可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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基本情報
【主な仕様】 ■測定周波数帯域：10MHz～50GHz ■システムダイナミックレンジ：126dB ■レシーバーダイナミックレンジ：129dB ■ノイズフロア：-111dBm（IF帯域幅：10MHzの場合） ■測定ポイント数の上限：32,001ポイント ■測定チャネル数：最大32チャネル ■低い高調波の信号源：-60dBc ■ハイパワー出力：+16dBm ■広い出力掃引範囲：41dB ■測定用ポート：4ポート ■信号源2個を内蔵 ■IF帯域幅：5MHz ■0.1dB圧縮：+15dBm ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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企業情報
公益財団法人 福岡県産業・科学技術振興財団 三次元半導体研究センターは、3次元実装技術の中でも、プリント基板内部に能動素子、受動素子を内蔵して3次元に配線する部品内蔵基板の設計から製造、試験、評価・解析が量産レベルで行える施設があります。 通常のプリント基板製造ラインに加え、基板内部に部品を搭載する実装装置、接続信頼性を評価するための高温高湿振動試験装置などを備えています。 また、8インチのシリコンウェハラインがあり、評価用のTEG(test element group)チップ開発が可能です。 更に、シリコン貫通電極(through silicon via: TSV)を用いたチップの3次元積層やプリント基板の替わりにシリコン基板を用いるシリコンインターポーザの開発も可能です。