初期不良の減少を果たすバーンインシステムなどをラインアップ！
ディ・アイジャパン株式会社が取り扱う『Logic Burn-In Tester』を ご紹介します。 高性能ロジックバーンインシステム「DL1100E」をはじめ、高温・低温 運転仕様の「DL1100A」や高い信頼性と初期不良の減少を果たす 「DP4100」などをラインアップしています。 【ラインアップ(抜粋)】 ■DL1100E ■DL1100A ■DL800F ■DL600 ■DP4100 ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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当社の親会社であるDI Corporationの研究所では、半導体関連装置の専門的な 研究プロジェクトを基盤とし、次世代半導体検査装置の開発を成功させました。 品質ISO9001・環境ISO14001・情報セキュリティISO27001・労働安全衛生 OHSAS18001の管理システムの国際認証を取得した製品の開発・製造環境を 維持管理しています。 また、お客様に安心して当社製品をご使用いただけるよう、グローバル ネットワークを活かした販売及び保守メンテナンスサービスのご提供を させていただきます。
