膜厚と母材(素地)の厚さを同時に測定、ハードウェアを一新し測定精度・範囲を大幅に向上
CMX Ver.2は、母材(素地)の厚さだけでなく、膜厚も同時に測定することができる画期的な超音波厚さ計です。 外観はそのままに内部のハードウェアを一新し、測定精度・範囲、処理速度を大幅に向上、Ver.2として生まれ変わりました。 従来からのBスコープ表示、感度調整、自動零点調整、温度補正、スキャンモード(高速サンプリング&最小値・最大値ホールド機能)などの機能に加え、0.63mm~1,000mmの驚異的な測定範囲、TDG(Time-Dependent Gain)テクノロジー、USB給電機能を追加しました。 CMX DL Ver.2には4GBの内部メモリを搭載、測定値を本体に保存することができます。 ■特長 ・膜厚の測定も可能な画期的な超音波厚さ計 ・0.63mm~1,000mm(鋼換算)の驚異的な測定範囲 ・マルチ・エコーモードによる高精度の厚さ測定 ・25回/秒の画面更新、さらにスキャンモードでは250回/秒の超高速測定 ・多段階の感度調整機能 ・USB給電機能 ・IP65の防塵・防滴性能と2年保証 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お問い合わせください。
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基本情報
■仕様 ・測定範囲(鋼換算):0.63~1,000mm (パルス・エコーモード) ・厚膜厚測定範囲:0.013~2.54mm ・表示分解能 0.01mm ・音速測定範囲:310~18,542m/秒 ・測定モード:パルス・エコー、パルス・エコー + 膜厚 パルス・エコー + 温度補正 エコー・エコー、マルチ・エコー、膜厚 ・探触子:二振動子探触子 ・画面更新:25回/秒 ・寸法:64(W)×165(L)×32(D)mm ・重量:約383g(電池含む) ・IP等級:IP65(防塵・防滴) ・電源:単3アルカリ電池3本(35時間動作)、USB給電 ・保証期間:2年(保証対象は本体のみ) ・機能(共通): マテリアルリスト(38件)、セットアップ(64件)、感度調整 スキャンモード、トランスデューサー自動認識、自動零点調整 1点・2点校正、Vパス補正、画面キャプチャ ・機能(CMX DL Ver.2): データロガー(4GB) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お問い合わせください。
価格帯
10万円 ~ 50万円
納期
~ 1週間
用途/実績例
■鉄・ステンレス・アルミ・鋳物等の金属やガラス、プラスチック・セラミック等の厚さ測定 ■塗膜上からの素地(母材)の厚さ測定 ■膜厚の測定
ラインアップ(2)
型番 | 概要 |
---|---|
CMX Ver.2 | ベースモデル |
CMX DL Ver.2 | データロガー(4GB) |
カタログ(2)
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