研究・開発用、装置テスト・評価用ウェーハ、シリコン（結晶）の加工、販売。
研究用窓材、X線干渉計、光学系などに使用する結晶加工、厚み３５μm～5ｍｍ、ウェハー、長方形板など、 国内外研究機関、大学研究室に取引実績がございます。 ダイシング、溝加工、石英板、ウェハーなどお気軽にご相談ください。
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基本情報
サイズinch12 製法–CZ タイプ–P or N 結晶方位–100 /110 / 厚みμm775±25 抵抗値Ω･cm0.001～10000Ω LM SEMI/T７．M12 面状態–両面ミラー 数量lot25枚 / ケースor２００枚入り発泡ケース 梱包形態–ウェハーケース＋クリーンパック 備考–※高精度ウェハーお問い合わせください。 ※低パーティクルウェハー、膜付けはお問い合わせ下さい。
価格情報
ご希望のスペック、数量によって価格が変動致します、 まずはお気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
~ 1万円
納期
即日
※ご希望スペックによって納期が変動します、お問い合わせ下さい。
用途／実績例
再生可能ウェハー、テスト、ダミーウェハーについては、 国内外ウェハー再生、装置メーカー、納品の実績がございます。 実験テスト用シリコン結晶の加工は日本国内外の各国立研究機関、大学研究室などに納品実績がございます。 切り出し、穴開け、研磨加工、薄化加工などご用途、ご希望に添える加工技術がございます、お気軽にお問い合わせ下さい。
詳細情報
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裏面薄化、BG加工、10μｍ
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研究用反射材、インゴットから指定の角度を切り出し、エッチング、鏡面研磨仕上げ。
カタログ（1）
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企業情報
当社は、太陽光エネルギー資源の有効活用、シリコン材料の再生による 環境保護をご提案しております。 試作、研究用など、少量のオーダーにも対応可能。 高品質な単結晶シリコン部材を安定供給いたします。 ご要望の際は、お気軽にご相談ください。