ヘリウムガスを使用しない比表面積・細孔分布評価を可能とした新たな機能を開発、リリース！
MicrotracMRBでは、昨今のヘリウムガス供給不足のための新たな機能として、ヘリウムガスが不要なフリースペース連続測定法『AFSM2』を開発しました。 事前にN2などの吸着質を用いて、「ブランク試料管のフリースペース値」を決定（検量）し、「試料質量と密度から求められる試料の排除体積」を差し引きしたフリースペース（計算値）により、吸着量を算出。 事前検量ならびに吸着測定時の液体窒素液面の違いによるフリースペースは、リファレンス管を利用して自動決定されますので、液面を一定にする必要はありません。 【特長】 ■フリースペース連続測定：可能 ■Heガス：不要 ■フリースペース（初期値）：事前測定+リファレンス管補正 ■試料管ID管理：必要（ソフトウェアにID・容積を登録） ■測定時間：約45分短縮 ■ネット吸着量の直接測定：可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【対応機種】 ■比表面積・細孔分布測定装置「BELSORP MINI X」 ■高精度ガス吸着量測定装置「BELSORP MAX G」 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
マイクロトラック・ベル株式会社は、以下、3つの卓越したコア技術を保有しています。 1.ガス/蒸気吸着・比表面積・細孔分布・真密度・触媒評価 ガス吸着法により粉粒体(多孔性・無孔性材料)のガス/蒸気吸着量、BET比表面積、細孔分布、真密度、触媒を評価するBELSORP・BELPYCNO・BELCATシリーズと水銀圧入法にて粉粒体の細孔構造を評価するBELPOREシリーズをラインナップ 2.粒子径分布＆粒子形状評価 動的画像解析技術を用いたCAMSIZERシリーズは粒子個々の粒子径と形状を迅速に測定可能です。また、レーザ回折・散乱は、粒子の光散乱情報を元に粒子径分布を測定する技術でMICROTRACはこの原理を用いた装置のパイオニアです。 3.分散安定性評価 動的光散乱法(DLS)を用いた粒子径測定装置、流動電位法(SPM)により粒子界面の静電反発力を評価する装置、静的多重光散乱法(SMLS)により分散安定性を評価する装置をラインナップ これらの製品群は、世界中の研究開発や品質管理・品質保証の分野で使用されており、当社はワンストップソリューションプロバイダーとして日々前進しています。
