CIQTEK EPR200M ベンチトップ型 ESR(EPR)

基本情報

CIQTEK EPR200Mは、コンパクトなベンチトップ型ながら、高感度・高安定性を実現したESR（EPR）分光計です。優れたS/N比と広い磁場掃引範囲により、微量ラジカルや各種常磁性種を高精度に測定可能です。Auto Tune機能による簡便な操作性に加え、温度可変システムや光照射オプションにも対応し、材料・触媒・電池・食品・生命科学など幅広い研究分野で活用できます。 【仕様】 ・測定周波数：9.2 ～ 9.9 GHz（X-band） ・感度：5 × 10⁹ spins / (G·Hz¹/²) ・S/N比：≧ 800:1 ・磁場掃引範囲： -1,000 ～ 6,500 Gauss ・最大変調磁場： 10 Gauss ・データポイント数：最大256,000 points ・Auto Tune搭載

価格情報

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納期

用途／実績例

孤立した単一原子、導体、磁性分子、遷移金属イオン、希土類イオン、イオンクラスター、ドープ材料、欠陥物質の電子スピン共鳴の計測

詳細情報

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  ベンチトップ型のコンパクト設計により、限られた実験室スペースにも設置しやすく、研究室内で手軽にESR/EPR測定を行うことができます。

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  EPR200Mでは、オプションとして温度可変システムを追加することが可能です。 93 K～573 Kの広い温度範囲でのESR/EPR測定に対応しており、低温から高温まで幅広い研究用途にご活用いただけます。 低温測定では、常温では観測が難しい短寿命ラジカルや金属イオン種の安定化・高感度観測が可能となります。一方、高温測定では、触媒反応や材料中の熱的挙動、反応中間体の解析などに有効です。 本システムは、触媒、電池材料、半導体、光機能材料、食品・バイオ分野など、多様な研究分野における温度依存性評価をサポートします。

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  EPR200Mでは、Xenonランプを用いた光照射実験に対応可能です。 キセノンランプは広帯域かつ高強度の光を安定して出力できるため、光励起状態や光誘起ラジカルの観測に適しています。 光照射下でのESR/EPR測定（Photo-ESR）により、光触媒、半導体材料、有機デバイス、光合成関連材料などにおける励起電子状態や反応中間体の解析を行うことができます。

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  Mercuryランプ（水銀ランプ）は、強い紫外光（UV）を高強度で照射できる光源であり、光励起によって生成されるラジカル種や励起状態のESR/EPR測定に利用されます。 特に、紫外光による光化学反応や光触媒反応の解析に適しており、半導体材料、酸化物触媒、有機光機能材料などの研究分野で広く使用されています。 EPR200Mと組み合わせることで、光照射下で発生する短寿命ラジカルや電子移動過程をリアルタイムに観測することが可能です。