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蛍光X線式膜厚測定・分析器『X-RAY XDV-SDD』

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最終更新日:2026年08月06日

株式会社フィッシャー・インストルメンツ
株式会社フィッシャー・インストルメンツ
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新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)搭載の新型モデル!高性能で万能型。研究開発、工程解析、実験室などに好適!

『X-RAY XDV-SDD』は、非常に薄い皮膜の自動測定や 微量分析ができる蛍光X線式測定器です。 大きなセンシング面積と高いエネルギー分解能を持つシリコンドリフトディテクター(SDD)を検出器に採用。 大口径のコリメーターと組み合わせると非常に大きなカウント数が 得られ、優れた再現性と非常に低い検出限界が実現できます。 ★新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP+)を搭載 従来のDPPに比べ最大50%性能向上し、測定時間の短縮に貢献します。 【特長】 ■電動ステージ付き ■非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析ができる ■シリコン・ドリフト・ディテクター(SDD)をX線検出器に採用 ■高い凡用性 ■レーザーポイントが測定位置を表示し位置決めが容易 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

    蛍光X線分析装置
image_01.png

蛍光X線式膜厚測定・分析器『X-RAY XDV-SDD』

image_01.png
image_01.png XDV-SDD.jpg DPP+.jpg XDV-SDD(appl).jpg DPPplus.jpg
  • 関連リンク - https://www.helmut-fischer.com/jp/%E8%A3%BD%E5%93%…
  • 特設サイト - 製品・サービス詳細 - https://pr.mono.ipros.com/helmut-fischer/product/

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基本情報

【仕様(抜粋)】 ■測定元素範囲:Al(13)~U(92) ■X線検出器:シリコンドリフト検出器(SDD) ■X線管球:マイクロフォーカスチューブ ■プライマリフィルター:6種類 ■本体寸法:660×835×720mm(幅×奥行×高さ) ■測定チャンバー内寸:580×560×145mm(幅×奥行×高さ) ■重量:約140kg ■消費電力:最大120W ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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用途/実績例

【用途例】 ■極薄膜や多層膜の検査(電子・半導体産業など) ■トレース分析(RoHS、玩具、包装材基準のための有害物質検査など) ■NiPの組成分析、厚さ測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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蛍光X線式膜厚測定・分析装置『X-RAY XDV-SDD』

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この製品に関するニュース(1)

「SURTECH2024 表面技術要素展」出展のお知らせ

  • セミナー・イベント

このたび弊社は、来る2024年1月31日(水)~2月2日(金)、東京ビッグサイト(東展示棟)にて開催されます「SURTECH2024 表面技術要素展」に出展いたします。 表面技術をリードしているメッキ企業が多数出展される展示会です。 当社では、微小部品や構造部を非破壊で膜厚測定と素材分析する蛍光X線式膜厚測定器、メッキ皮膜や塗装の膜厚を簡単に測定できる小型膜厚計や微小硬さ試験のインデンテーションテスターなどを出展する予定です。 皆さまのご来場を心よりお待ちしております。

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FISCHER 製のポケットサイズの膜厚計から蛍光X線方式の膜厚測定器、分析器からフェライト組織量の検査器や導電性計などを製造、販売するメーカーです。 高品質な膜厚測定器は、ヘルムート・フィッシャー社設立から60年を超える豊富なノウハウや産業経験、そして著名なパートナーとの共同研究の結果です。フィッシャーは適切なアドバイス、きめ細かなサービスと実用的な訓練セミナーを提供し、貴社の有能なパートナーでもあります。 今日、 FISCHER製品は世界中の産業、研究、そしてエンジニアリングのすべてのフィールドで幅広く活用いただいています。

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