空気中のイオン性不純物により電子部品上に発生する汚染の度合いを洗浄液中のイオン量を測定して評価します。
・溶液中の化合物は多様なため、規格に従いイオン種がNaClであると仮定してNaCl / cm²で換算します。 ・汚染度の測定をスタティック法で行うことができます。 ・装置の測定精度は高く0.0001 µS/cm レベルまで測定します。 ・同時にパーツを洗浄し、イオン樹脂フィルタで洗浄液をリサイクルするので環境汚染を最低限に抑えることができます。 ・以下の国際的な規格に適合しています: ‐Mil-P-28809 et Mil-STD-2000A (USA) -Defene Standard 10/03 (UK) -IPC-TR-583 ・0.4L, 8L, 40Lと3種類の異なる洗浄槽容量を揃えました。 ・耐久性が高くメンテナンスが容易な構造です。
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基本情報
槽サイズ CT10：0.375L CT100：8.12L CT1000：39.6L 洗浄時間（1試験）：IPC-TR-583規格設定で約10分 洗浄溶液：50％または75％のイソプロパノールおよび純水 洗浄溶液リサイクル方法：樹脂フィルタでの濾過（1リットル分のフィルタ樹脂入りカートリッジを交換可能） 廃液：フルリサイクルで廃液なし 測定範囲：0.01 から 20.00 マイクロg Eq NaCl / cm２ 測定精度：0.0001 マイクロS/cm 約0.03 マイクロg Eq NaCl/cm２ プロセス制御：PCソフトウェアによる完全自動制御 対応言語：英語、フランス語、ドイツ語、イタリア語、中国語 電源：標準仕様 230V AC 50 Hz オプション 110V AC 60 Hz 外形寸法（ｍｍ）CT10：510×315×590 CT100：510×315×590 CT1000：600×960×1020 重量 (kg)CT10：約20kg/CT100：約25kg/CT1000：約128kg
価格帯
納期
用途／実績例
大規模な半導体部品メーカーでの部品保管品質確認、電子基板製造業での製造ラインでのイオン汚染度測定などに数多く使われています。
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企業情報
当社では、研究開発用機器、製造試験設備、医療機器、調査用機器等を取り扱っており、 日本国内の産業現場に世界先進の省力化・工程合理化テクノロジーを導入し、 業務の短縮に貢献する事を担っております。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。
