表面分析を基礎から学びたい方向きの講座です。 TOF-SIMS、RBS、 XPSについて、原理・スペクトル例を解説しています。
表面分析を基礎から学びたい方向きの講座です。受講期間中、本講座に関する質問を受け付けております。 以下について、易しく、コンパクトに解説しています。 表面分析について TOF-SIMS:飛行時間型２次イオン質量分析法（原理、スペクトル例） RBS：ラザフォード後方散乱分析法（原理、スペクトル例） XPS：X線光電子分光法（原理、スペクトル例） 測定事例：有機EL素子 受講特典として「講座内容に対する質問回答サービス」がついており、「分析手法の原理について、理解を深めたい」、「測定事例について、不明な点があるので詳しく説明して欲しい」など、動画形式の講義ではお伝えするのが難しい事項について、分析の専門家が回答いたします。 ◎お申し込みのお手続きの詳細はこちらです。 https://www.toray-research.co.jp/service/seminar/online/
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基本情報
受講有効期間：３カ月（期間内はいつでも視聴できます） 価格：3,300円（税込） お申込みはこちらから： https://www.toray-research.co.jp/service/seminar/online/ ※お申込み前に、試聴確認用サンプル動画が問題なく再生できることをご確認ください。
価格情報
3300円（税込）
価格帯
~ 1万円
納期
即日
※web申し込み、Paypal決済
用途／実績例
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この製品に関するニュース（1）
企業情報
株式会社東レリサーチセンターでは、受託分析を通じて、研究開発や生産分野における様々な課題に対して、分析技術や物性解析による技術支援を行っております。分析・物性評価の長年の実績と豊富な経験に基づき、高度で広範囲にわたるお客様のご要望にお応えできるよう努力を続けております。
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