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Bフィールド プローブ 最大40GHz HR-R8-1 set

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HR-R 8-1 set ・Langer

最終更新日:2023年05月08日

ウェーブクレスト株式会社
ウェーブクレスト株式会社
  • 公式サイト

最大40GHzの磁場を測定するためのパッシブ近接場プローブ

HR-R 8-1 セットには、HR-R 8-1 Bフィールド プローブが含まれています。これにより、40GHzまでの磁場測定が可能です。 HR近接場プローブの特殊なプローブ ヘッドにより、IC ピンまたは個々の導体トラックで直接測定を行い、Bフィールドの発生源を突き止めることができます。

    その他電子計測器EMC試験
HR-R_8-1_with_case_de_web.jpg

Bフィールド プローブ 最大40GHz HR-R8-1 set

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基本情報

電子アセンブリと RF 構造の研究開発のための新しい測定および分析ツールです。 Industry 4.0、IoT、自動車、ロボット工学の分野で使用されています。 近接場プローブにより、トレース、個々のコンポーネント、または IC の RF 測定が可能になります。 近距離で最大 40GHz のRF範囲での感度を備えたパッシブプローブにより、これまで不可能だった開発中の分析が可能になります。 HR-R 8-1 磁場プローブは、干渉の放出と隣接アセンブリへの電磁場の関連する影響に関する情報を提供します。これらの調査結果は、開発プロセスにおけるよりコスト効率の高い設計に貢献できます。 プローブの特性値を実現するために、ヘッド サイズとプローブ ヘッド内の短い信号経路の組み合わせに特に注意を払いました。 その結果、この近接場プローブは特に高い磁場感度を提供します。 【HR-R 8-1 セット内容】 ●HR-R 8-1: 最大40 GHzのBフィールド・プローブ ●CS-ESA Viewer: ChipScan-ESA Viewer ソフトウェア / USB ●HR R char: HR-R 8-1 特性

価格帯

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用途/実績例

• 電⼦アセンブリ (PCB、IC、RF 構造) の研究開発 • コンポーネント、IC ピン、または個々の導体トラック上の B 磁場 源の局在化 • 磁場放射と隣接する電⼦機器への影響の検出 • コンポーネント (Industry 4.0、IoT、⾃動) 他

詳細情報

  • HR-R_8-1_front_web.jpg

    HR-R 8-1 磁場プローブ

  • HR-R_8-1_probe_head_web.jpg

    HR-R 8-1 磁場プローブ プローブヘッド

  • HR-R_8-1_with_case_de_web.jpg

    HR-R 8-1 set

  • HR-R_8-1_measurement_setup_close_up_web.jpg

    使用例

  • HR-R_8-1_schematic_site_web.jpg

    HR-R 8-1 磁場プローブ

  • HR-R_8-1_schematic_front_en_web.jpg

    HR-R 8-1 磁場プローブ

  • HR-R_8-1_frequency_range_en_web.jpg

    HR-R 8-1 磁場プローブ 周波数レンジ

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Bフィールド プローブ 最大40GHz HR-R 8-1

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EMC試験・汎用計測におけるユニークで新しいソリューションを提供する企業として、ウェーブクレスト株式会社は活動しています。高度化する電子・通信環境はその製品の性能ばかりでなく社会全体の安全性をも左右する社会インフラとして、高い安全性、信頼性が求められています。従来の試験方法や機器にとらわれずマーケットが必要とする新しい製品やソリューションを提供していきたいと考えます。

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