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【要旨】 走査透過型電子顕微鏡（STEM）の測定手法の一つである微分位相コントラスト（DPC）-STEMは、微小部の電場を測定することが可能である。我々は、本手法をポリマーアロイに適用することで、従来の電子顕微鏡では観察が困難な相分離構造のコントラストが出現することを見いだした。 【目次】 １．はじめに ２．元素分析によるソフトマテリアルの可視化 ３．DPC-STEM法の適用 ４．おわりに
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基本情報
技術情報誌The TRC News「DPC-STEMを用いたポリマー相分離構造の解析」 【要旨】 走査透過型電子顕微鏡（STEM）の測定手法の一つである微分位相コントラスト（DPC）-STEMは、微小部の電場を測定することが可能である。我々は、本手法をポリマーアロイに適用することで、従来の電子顕微鏡では観察が困難な相分離構造のコントラストが出現することを見いだした。 【目次】 １．はじめに ２．元素分析によるソフトマテリアルの可視化 ３．DPC-STEM法の適用 ４．おわりに 【図表】 図１ アクリロニトリル・スチレン共重合体(AS)とブタジエンゴム(BR)からなるポリマーアロイであるABS樹脂のTEM像 図２ 一般的なポリウレタンのRuO4電子染色後のTEM像、硬質ポリウレタンのRuO4電子染色後のTEM像 図３ 無染色のABS樹脂のHAADF-STEM像およびN, Mg, CaのEDXマップ 図４ DPC-STEMの測定原理図 図５ 無染色ABS樹脂のHAADF-STEM像、DPC-STEMで測定した電場分布、および電場分布から算出したポテンシャル分布
価格情報
2,200円（税込）
価格帯
~ 1万円
納期
即日
※web申し込み、Paypal決済
用途／実績例
https://www.toray-research.co.jp/service/trcnews/をご覧下さい
企業情報
株式会社東レリサーチセンターでは、受託分析を通じて、研究開発や生産分野における様々な課題に対して、分析技術や物性解析による技術支援を行っております。分析・物性評価の長年の実績と豊富な経験に基づき、高度で広範囲にわたるお客様のご要望にお応えできるよう努力を続けております。
