φ10μm、φ100μmのX線プローブを搭載！微小部の元素情報の取得などに有効
当社で行っている「X線分析顕微鏡による元素マッピング」を ご紹介いたします。 当社のX線分析顕微鏡は、内蔵のカメラで試料を観察し、任意の場所で 元素(11Na〜92U)の定性・定量分析を行うことが可能。 また、マッピング分析では、元素分布情報と同時にX線透過像を 取得することもできます。 【分析例】 ■材料表面変色部の元素マッピング分析 ■プリント基板上の微小異物分析 ■樹脂内部の異物の非破壊分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
この製品へのお問い合わせ
カタログ（1）
カタログをまとめてダウンロード
この製品に関するニュース（55）
企業情報
●研究・開発と品質保証のパートナー ●製品の「開発・設計」から「計測・評価・生産」「品質保証・メンテナンス」までのあらゆる技術的課題を「迅速かつ的確」に解決 ●129年の歴史を誇る川崎重工グループの研究開発支援企業 ●川崎重工業技術研究所などの研究開発部門との協調による確かな技術力 ●先端技術分野への積極的取り組み
