STEM・TEM・SEM観察、各種分析・不良解析・応力分析など承ります
『分析(化学・物理)・ 特性評価・材料評価』についてご紹介します。 顕微鏡検査・分光解析など不良解析のための分析サービスをご提供。 個人の研究者・起業家から大企業の方まで、半導体技術の他、 ナノテクノロジー、バイオテクノロジー、クリーンエネルギー分野など 様々な分野の技術開発に、当社をぜひご活用ください。 【サービス内容】 ■STEM・TEM・SEM観察 ■各種分析 ■不良解析 ■応力分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
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基本情報
【分析・評価サービス詳細(一部)】 ■Analytical Testing ・Focused Ion Beam ・Auger ・XPS ・ICP ■Electrical Testing ・NBTI ・Electro Migration ・ESD ・HCI ■Reliability Testing ・High Temp Operation Test ・Low Temp Operation Test ・Temperature Cycle Test ・PCT ■Material & Tool Testing ・ICP-MS ・ICP ・ZAA ・TXRF など ※上記は一部の例ですが、このほかにもご提供可能なサービスがございますので、お気軽にご相談ください。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
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ティーイーアイ ソリューションズ株式会社は、研究開発支援を提供するインテグレーテッドファンウドリーです。 ナノテクノロジー、バイオテクノロジー、太陽電池、クリーンエネルギーなど、半導体技術を応用し、様々な分野の研究開発が可能です。 柔軟なビジネスモデル・厳密な情報管理・顧客第一主義を基本理念として、お客様の長期に渡るビジョンをサポートしていきます。